講演名 | 2014-10-24 両面加工法で作製したBi-2212固有接合スタックの温度分布評価法の検討(薄膜プロセス・材料,一般) 西方 翼, 小瀧 侑央, 加藤 孝弘, 石橋 隆幸, 安井 寛治, |
---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
抄録(和) | 高温超伝導体Bi_2Sr_2CaCu_2O_x(Bi-2212)単結晶は,超伝導体であるCuO_2層(0.3nm)と絶縁体であるSrO/BiO(1.2nm)層がc軸方向に周期的に積層しJosephson接合のシリーズアレイとなっており固有ジョセフソン接合と呼ばれている.最近,Bi-2212固有ジョセフソン接合からのTHz電磁波の放射が多くの研究者によって報告されるようになってきた.本研究では,希塩酸を用いた両面加工法によって固有接合を作製しその電流電圧特性と電磁皮放射について調べた.発振周波数は温度上昇に伴って減少し,自己発熱を考慮することでこの温度依存性を概ね説明できることがわかった.本稿では,今後,発振周波数の定量的解析のために必要となる素子温度の評価方法についても紹介する. |
抄録(英) | Bi_2Sr_2CaCu_2O_x (Bi-2212) crystal behaves as a stack of intrinsic Josephson junctions (IJJs). Recently many researchers have reported THz electromagnetic radiation from large mesa structures patterned on Bi-2212 crystal. In this study, we fabricated a Bi-2212 stack with seize of 183×38×1.15 μm^3 by double-sided patterning (DSP) process. To confirm the THz emission, current voltage characteristics was investigated and detection experiment of electromagnetic radiation by a Si bolometer was done. We detected the emission signal at 30, 40 and 50 K. Voltage appeared in a response of the bolometer was 513 mV at 30 K. Also the voltage decreased with increasing temperature from 513 mV at 30 K to 208 ~ 286 mV at 50 K. We found that the result arise from a strong self heating effect in Bi-2212 stack. In this paper we will report the next step to estimate the temperature distribution in Bi-2212 intrinsic Josephson junction stacks by DSP process. |
キーワード(和) | テラヘルツ / ジョセフソン接合 / Bi_2Sr_2CaCu_2O_x(Bi-2212) |
キーワード(英) | Terahertz / Josephson junction / Bi_2Sr_2CaCu_2O_x (Bi-2212) |
資料番号 | CPM2014-112 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | CPM |
---|---|
開催期間 | 2014/10/17(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 両面加工法で作製したBi-2212固有接合スタックの温度分布評価法の検討(薄膜プロセス・材料,一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Imaging method of temperatur distribution in Bi-2212 intrinsic Josephson junction stacks by double-sided fabrication |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | テラヘルツ / Terahertz |
キーワード(2)(和/英) | ジョセフソン接合 / Josephson junction |
キーワード(3)(和/英) | Bi_2Sr_2CaCu_2O_x(Bi-2212) / Bi_2Sr_2CaCu_2O_x (Bi-2212) |
第 1 著者 氏名(和/英) | 西方 翼 / Tsubasa Nishikata |
第 1 著者 所属(和/英) | 長岡技術科学大学工学部 Nagaoka University of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 小瀧 侑央 / Yukio Kotaki |
第 2 著者 所属(和/英) | 長岡技術科学大学工学部 Nagaoka University of Technology |
第 3 著者 氏名(和/英) | 加藤 孝弘 / Takahiro Kato |
第 3 著者 所属(和/英) | 長岡技術科学大学工学部 Nagaoka University of Technology |
第 4 著者 氏名(和/英) | 石橋 隆幸 / Takayuki Ishibashi |
第 4 著者 所属(和/英) | 長岡技術科学大学工学部 Nagaoka University of Technology |
第 5 著者 氏名(和/英) | 安井 寛治 / Kannji Yasui |
第 5 著者 所属(和/英) | 長岡技術科学大学工学部 Nagaoka University of Technology |
発表年月日 | 2014-10-24 |
資料番号 | CPM2014-112 |
巻番号(vol) | vol.114 |
号番号(no) | 276 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 5 |
発行日 |