講演名 2014-09-18
光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリ部の放射線耐性
森脇 烈, 伊藤 宏幸, 前川 輝, 渡邊 実, 荻原 昭文,
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抄録(和) 我々は現在,レーザアレイ,ホログラムメモリ,ゲートアレイVLSIから構成され,光による高速動的再構成が可能な光再構成型ゲートアレイについて研究開発している.光再構成型ゲートアレイは放射線に対して高い耐性を有する.しかし,これまで光再構成型ゲートアレイの耐放射線エミュレーション試験を行ってきたが,実際に放射線を照射した試験は行っていなかった.この度,光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリに対してガンマ線を照射し,構成試験を実施した.本稿では,この試験を通して,光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリの放射線耐性を示す.
抄録(英) Optically reconfigurable gate arrays (ORGAs) have been developed as a type of dynamically reconfigurable gate array. ORGAs have a high-speed reconfiguration capability along with numerous reconfiguration contexts. Moreover, ORGAs have a high fault tolerance for radiation. Thig paper presents radiation tolerance of a holographic memory of an ORGA by using a gamma radiation source.
キーワード(和) FPGA / 光再構成型ゲートアレイ / 偏光依存性ホログラムメモリ / 放射線耐性
キーワード(英) FPGAs / Optically Reconfigurable Gate Amays (ORGAs) / Polymer-dispersed holographic memory / Radiation tolerance
資料番号 RECONF2014-20
発行日

研究会情報
研究会 RECONF
開催期間 2014/9/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reconfigurable Systems (RECONF)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリ部の放射線耐性
サブタイトル(和)
タイトル(英) Radiation tolerance of a holographic memory part on an optically reconfigurable gate array
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) FPGA / FPGAs
キーワード(2)(和/英) 光再構成型ゲートアレイ / Optically Reconfigurable Gate Amays (ORGAs)
キーワード(3)(和/英) 偏光依存性ホログラムメモリ / Polymer-dispersed holographic memory
キーワード(4)(和/英) 放射線耐性 / Radiation tolerance
第 1 著者 氏名(和/英) 森脇 烈 / Retsu MORIWAKI
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 伊藤 宏幸 / Hiroyuki ITO
第 2 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 3 著者 氏名(和/英) 前川 輝 / Akira MAEKAWA
第 3 著者 所属(和/英) 神戸市立工業高等専門学校
Kobe City College of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 渡邊 実 / Minoru WATANABE
第 4 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 5 著者 氏名(和/英) 荻原 昭文 / Akifumi OGIWARA
第 5 著者 所属(和/英) 神戸市立工業高等専門学校
Kobe City College of Technology
発表年月日 2014-09-18
資料番号 RECONF2014-20
巻番号(vol) vol.114
号番号(no) 223
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日