講演名 2014-08-05
配線層中形成した酸化物半導体トランジスタ(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
砂村 潤, 古武 直也, 齋藤 忍, 成広 充, 林 喜宏,
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抄録(和) オンチップ高耐圧インターフェイス実現を目的として我々が提唱する配線層中形成した酸化物半導体トランジスタ技術(BEOL-FET)に関し、その開発状況を報告する。チャネルにワイドギャップアモルファス酸化物半導体InGaZnO(IGZO, 3.3eV)を用いたNFETが、ノーマリーオフ型NFET動作をし、比較的高い移動度、高オンオフ比を有すること、Si上に形成するLDMOSよりも低いAR_が得られることを報告する。BEOL-FET適用範囲拡大に向けたCMOS化の取り組みに関しても報告する。Cu配線プロセス対応で高オンオフ比を有するPFETをアモルファスSnOという材料を用いて実現し、NFETとPFETを同一配線層上に組み込んだ相補型インバータ動作を実証した。また、BEOL-CMOS回路実現の第一ステップとして、六つのトランジスタから構成される6T-SRAMセルの動作実証を行った。
抄録(英) We report on the latest progress on our proposed new transistor technology called BEOL-FET, in which we form oxide-based transistors in LSI interconnects, aiming at compact on-chip high-voltage interface realization. NFETs using wide-gap amorphous oxide semiconductor InGaZnO (IGZO, 3.3eV) as channel, are shown to exhibit normally-off characteristics, high mobility and high on/off ratio. A lower AR_ has been achieved and is now lower than Si-LDMOS. We also report on our work on complementary FET enablement for making these devices applicable to wider range of applications. Cu-process-compatible PFETs are realized with high on/off ratio using amorphous SnO and demonstrate complementary inverter operation with NFET/PFET integrated on the same interconnect level. 6T-SRAM operation was verified as a first step towards BEOL-CMOS logic circuits.
キーワード(和) BEOL-Tr / BEOL-FET / 酸化物半導体 / 高耐圧 / プリドライバ / IGZO / SnO / AR_ / 相補型 / CMOS
キーワード(英) BEOL-Tr / BEOL-FET / oxide semiconductor / high-V_ / pre-driver / IGZO / SnO / AR_ / complementary / CMOS
資料番号 SDM2014-76,ICD2014-45
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2014/7/28(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 配線層中形成した酸化物半導体トランジスタ(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Oxide Semiconductor-based Transistors Formed in LSI Interconnects
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) BEOL-Tr / BEOL-Tr
キーワード(2)(和/英) BEOL-FET / BEOL-FET
キーワード(3)(和/英) 酸化物半導体 / oxide semiconductor
キーワード(4)(和/英) 高耐圧 / high-V_
キーワード(5)(和/英) プリドライバ / pre-driver
キーワード(6)(和/英) IGZO / IGZO
キーワード(7)(和/英) SnO / SnO
キーワード(8)(和/英) AR_ / AR_
キーワード(9)(和/英) 相補型 / complementary
キーワード(10)(和/英) CMOS / CMOS
第 1 著者 氏名(和/英) 砂村 潤 / Hiroshi SUNAMURA
第 1 著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社
Renesas Electronics Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 古武 直也 / Naoya FURUTAKE
第 2 著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社
Renesas Electronics Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 齋藤 忍 / Shinobu SAITO
第 3 著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社
Renesas Electronics Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 成広 充 / Mitsuru NARIHIRO
第 4 著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社
Renesas Electronics Corporation
第 5 著者 氏名(和/英) 林 喜宏 / Yoshihiro HAYASHI
第 5 著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社
Renesas Electronics Corporation
発表年月日 2014-08-05
資料番号 SDM2014-76,ICD2014-45
巻番号(vol) vol.114
号番号(no) 174
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日