| 講演名 | 2014-08-22 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象 : いくつかの条件下における最小摺動振幅に対する比較評価(2)(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) 越田 圭治, 和田 真一, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,電気接点等に微小な振動を与えるハンマリング加振機構を開発し,実験してきた.また,加振実験との比較を行うため,微摺動機構を開発し実験してきた.そして,微小な振動や摺動が,コネクタピンの接触抵抗に与える影響を考察してきた.摺動実験により,21.5時間以内にコネクタピンが劣化するための,最小の摺動振幅(駆動振幅,限界振幅)の存在が示唆された.本論文では,この限界振幅についての統計解析について報告する.行った統計解析は分散分析と母平均の推定である. |
| 抄録(英) | Authors have developed a hammering oscillating mechanism which gives micro-oscillation to electrical contacts, and have experimented. In addition, we have developed micro-sliding mechanisms for comparisons with oscillation experiments. And we have discussed the influence of the micro-sliding or micro-oscillation on the resistance of the connector pins. It is indicated that there are minimal sliding amplitudes or driving amplitudes within 21.5 hours by the sliding experiments. In this paper, we report statistical analyses for its minimal amplitudes. Statistical analyses are carried out for the estimation of population mean values and analysis of variance. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 統計解析 / 分散分析 / 点推定 / 区間推定 |
| キーワード(英) | electrical contact / contact resistance / micro-sliding mechanism / statistics analysis / analysis of variance / point estimation / interval estimation |
| 資料番号 | R2014-51,EMD2014-56,CPM2014-71,OPE2014-81,LQE2014-55 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2014/8/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象 : いくつかの条件下における最小摺動振幅に対する比較評価(2)(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by a micro-sliding mechanism : The comparison of the evaluated minimal sliding amplitudes under some conditions (2) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(4)（和/英） | 統計解析 / statistics analysis |
| キーワード(5)（和/英） | 分散分析 / analysis of variance |
| キーワード(6)（和/英） | 点推定 / point estimation |
| キーワード(7)（和/英） | 区間推定 / interval estimation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本工業大学 Nippon Institute of Thechnology |
| 発表年月日 | 2014-08-22 |
| 資料番号 | R2014-51,EMD2014-56,CPM2014-71,OPE2014-81,LQE2014-55 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 185 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |