| 講演名 | 2014-08-21 半導体レーザの周波数雑音を利用した光距離計測の検討(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) 近藤 勝軌, 齊藤 高大, 徳嵩 裕也, 新井 秀明, 前原 進也, 土井 康平, 佐藤 孝, 大平 泰生, 大河 正志, 坂本 秀一, |
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| 抄録(和) | 半導体レーザは,低コスト,軽量,低電力,長寿命などの利点から,光距離計測の光源として用いられている.また,半導体レーザは,その発振周波数が変動する周波数雑音を持っており,私たちはそれを用いて物理乱数生成を行ってきた.本研究では,この生成された物理乱数を用いた新しい光距離計測法を考案し計測を行ったので報告する.通常の光距離計測は,パルスなどの変調信号を用いているが,本方式では変調信号の代わりに周波数雑音を用いた.周波数変動は,Rb-D_2吸収線を用いて透過光強度に変換し,距離測定を行った.これにより変調を加えず,0.06mの分解能で,50mまでの距離計測を行うことができた.また,サンプリングレートを変えずに分解能の向上を図る検討を行ったためここに報告する. |
| 抄録(英) | Because of their low cost, light weight, low power consumption and durability, semiconductor lasers are ideal, for use as optical range finder light-sources. Their oscillation-frequency fluctuations generate the physical random numbers, which are used to measure distances. While normal range finders use modulation signals, such as sharp pulses, the method we devised employs semiconductor lasers' frequency noise, and a frequency to intensity converter, such as the rubidium absorption profile, to produce physical random numbers. This allowed us to construct an optical range finder that requires no additional modulation of the semiconductor laser, - has a range of up to 50 meters, and resolution of 0.06 meters. We also consider the resolving power of this method without changing its sampling rate. |
| キーワード(和) | 半導体レーザ / 周波数雑音 / 光距離測定 |
| キーワード(英) | Semiconductor LASER / Frequency Noise / Optical Range Finder |
| 資料番号 | R2014-35,EMD2014-40,CPM2014-55,OPE2014-65,LQE2014-39 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2014/8/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 半導体レーザの周波数雑音を利用した光距離計測の検討(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Examination of an Optical Range Finder using Semiconductor Laser Frequency Noises |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体レーザ / Semiconductor LASER |
| キーワード(2)（和/英） | 周波数雑音 / Frequency Noise |
| キーワード(3)（和/英） | 光距離測定 / Optical Range Finder |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 近藤 勝軌 / Katsuki Kondo |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 齊藤 高大 / Takahiro Saito |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 徳嵩 裕也 / Yuuya Tokutake |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 新井 秀明 / Hideaki Arai |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 新潟大学大学院自然科学研究科 Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 前原 進也 / Shinya Maehara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 土井 康平 / Kohei Doi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 東北学院大学工学総合研究所 Research Institute for Engineering and Technology, Tohoku Gakuin University |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 佐藤 孝 / Takashi Sato |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 大平 泰生 / Yasuo Ohdaira |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 大河 正志 / Masashi Ohkawa |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
| 第 10 著者 氏名（和/英） | 坂本 秀一 / Syuuichi Sakamoto |
| 第 10 著者 所属（和/英） | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
| 発表年月日 | 2014-08-21 |
| 資料番号 | R2014-35,EMD2014-40,CPM2014-55,OPE2014-65,LQE2014-39 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 185 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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