| 講演名 | 2014-07-23 SFQ論理ゲートにおける電流比較部の最適化によるビットエラーレートの改善(信号処理基盤技術及びその応用,一般) 朝倉 剣太, 山梨 裕希, 吉川 信行 /, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 2つのJosephson接合で構成されている単一磁束量子(SFQ)回路の電流比較部は,SFQ回路の中で最も重要な役割を果たす回路の1つである。電流比較部のグレーゾーン幅は回路の正常な動作のために小さくする必要がある。本研究では論理ゲートの電流比較部のグレーゾーン幅と論理ゲートのエラーレートとの関係を明らかにすることを目的とした。シミュレーションの結果,SFQ DFFとORゲートにおいて,クロック入力周波数10GHzと40GHzにおいて電流比較部のグレーゾーン幅を小さくすることで回路のエラーレートを改善することができた。クロック入力周波数10GHzにおいてORゲートを例にとると電流比較部のMcCumber係数を変えることで正常動作領域をバイアス電圧で0.7mV広くした。 |
| 抄録(英) | A Josephson comparator composed of two Josephson junctions is the basic component of single-flux-quantum (SFQ) circuits because logic gates of the SFQ circuit are comprised of comparators. Gray zone width of the comparator should be small for the stable circuit operation. In this study, we have calculated the relationship between the gray zone width of the comparator and the error rate of the SFQ logic gate. From the simulation results, the error rate of the SFQ Delay-Flip-Flop (DFF) and OR gate can be improved by reducing the gray zone width of the comparator in the logic gates.The dc bias margin of OR gate at the clock frequency of 10GHz was improved by the bias voltage 0.7mV. |
| キーワード(和) | 単一磁束量子回路 / コンパレータ / 論理ゲート / グレーゾーン幅 / エラーレート |
| キーワード(英) | SFQ / comparator / logic gate / gray zone width / error rate |
| 資料番号 | SCE2014-24 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
|---|---|
| 開催期間 | 2014/7/16(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SFQ論理ゲートにおける電流比較部の最適化によるビットエラーレートの改善(信号処理基盤技術及びその応用,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improvement of Bit-Error-Rate of Single Flux Quantum Logic Gate by Optimizing Gray Zone Width of Comparator |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 単一磁束量子回路 / SFQ |
| キーワード(2)（和/英） | コンパレータ / comparator |
| キーワード(3)（和/英） | 論理ゲート / logic gate |
| キーワード(4)（和/英） | グレーゾーン幅 / gray zone width |
| キーワード(5)（和/英） | エラーレート / error rate |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 朝倉 剣太 / Kenta ASAKURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院工学府 Graduate School of Engineering Yokohama National University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山梨 裕希 / Yuki YAMANASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院工学府 Graduate School of Engineering Yokohama National University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉川 信行 / / Nobuyuki / YOSHIKAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院工学府 / / Graduate School of Engineering Yokohama National University |
| 発表年月日 | 2014-07-23 |
| 資料番号 | SCE2014-24 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 147 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |