講演名 2014-06-20
YAlO_3単結晶基板の表面処理条件の探索とCr_2O_3薄膜の結晶成長(材料デバイスサマーミーティング)
林 佑太郎, 中村 拓未, 隅田 貴士, 橋本 浩佑, 山本 寛, 岩田 展幸,
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抄録(和) c面YAlO_3(YAO)基板のアニール最適条件探索を行い、この基板上にCr_2O_3薄膜を作製した。基板のアニール条件として900℃・3時間、700~1000℃・6時間、900℃・12時間、900℃・24時間、水酸化ナトリウム(NaOH)でのエッチング後900℃・6時間、1000℃・1時間を試した。700℃・6時間の熱処理条件では基板表面に粒径50nm程度の粒子が観測された。5MのNaOHで基板エッチング後、1000℃・1時間の条件で熱処理すると基板表面に粒子は観測されず、ステップ-テラス構造を示した。この基板上にCr_2O_3薄膜の成膜を行った。Cr_2O_3薄膜表面は0.5μm×O.5μm程度の板状のグレインが深い溝を形成しながら成長した。一つのグレイン表面に注目すると、1ユニットのステップ-テラス構造を示す原子レベルで平坦であることがわかった。
抄録(英) Cr_2O_3 thin film is deposited on surface treated YAlO_3(YAO)(001) substrate. Surface treatment is carried out at 900℃ for 3 h, 700~1000℃ for 6 h, at 900℃ for 12 h, and 24 h. In addition, annealing is done at 900℃ for 6 h and 1000℃ for 1 h after surface etching using 5M-NaOH solution. At 700℃ for 6 h, particles appear on the surface with 50 nm in diameter. After NaOH etching and annealing at 1000℃ for 1 h, clear step-terraces structure with unit step height. The r-oriented Cr_2O_3 thin film grows on orthorhombic YAO(001) substrate with a atomically flat surface, though deep trenches still remain between grain boundary.
キーワード(和) Cr_2O_3 / 薄膜 / YAlO_3 / 熱処理
キーワード(英) Cr_2O_3 / films / YAlO_3 / Heat treatment
資料番号 EMD2014-21,CPM2014-41,OME2014-29
発行日

研究会情報
研究会 OME
開催期間 2014/6/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Organic Material Electronics (OME)
本文の言語 JPN
タイトル(和) YAlO_3単結晶基板の表面処理条件の探索とCr_2O_3薄膜の結晶成長(材料デバイスサマーミーティング)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Search of the surface treatment conditions of a YAlO_3 single-crystal substance, and crystal growth of Cr_2O_3 thin film
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Cr_2O_3 / Cr_2O_3
キーワード(2)(和/英) 薄膜 / films
キーワード(3)(和/英) YAlO_3 / YAlO_3
キーワード(4)(和/英) 熱処理 / Heat treatment
第 1 著者 氏名(和/英) 林 佑太郎 / Yutaro Hayashi
第 1 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Science & Technology, Nihon Univ.
第 2 著者 氏名(和/英) 中村 拓未 / Takumi Nakamura
第 2 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Science & Technology, Nihon Univ.
第 3 著者 氏名(和/英) 隅田 貴士 / Takashi Sumida
第 3 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Science & Technology, Nihon Univ.
第 4 著者 氏名(和/英) 橋本 浩佑 / Kosuke Hashimoto
第 4 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Science & Technology, Nihon Univ.
第 5 著者 氏名(和/英) 山本 寛 / Hiroshi Yamamoto
第 5 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Science & Technology, Nihon Univ.
第 6 著者 氏名(和/英) 岩田 展幸 / Nobuyuki Iwata
第 6 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Science & Technology, Nihon Univ.
発表年月日 2014-06-20
資料番号 EMD2014-21,CPM2014-41,OME2014-29
巻番号(vol) vol.114
号番号(no) 96
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日