| 講演名 | 2013-11-16 Synchronous Control System for Synthetic Test , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | Synthetic test is recognized as the most equivalent test to the high voltage circuit breaker breaking capacity test. In order to improve the success rate of the test, a synchronous control system is studied in this paper. Firstly, according to the demand of short-time and high-precision during the synthetic test, hardware circuit of the synchronous control system which uses DSP as the core is designed. Then, according to properties of the derivative, for the current approximately presents linearity near the zero area, the current model is simplified. The current zero is on-line predicted based on platform hardware circuit and real-time sampling. The trigger signal of the prolong-arc and voltage circuit are given. Finally, the performance of the intelligent device is verified in the test. According to the test result, error of trigger time for prolong-arc circuit is less than 40μs and for high-voltage circuit is less than 50μs, which can ensure the equivalence of synthetic test. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | synthetic test / synchronous control / current zero forecasting |
| 資料番号 | EMD2013-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2013/11/9(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Synchronous Control System for Synthetic Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / synthetic test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Yuan Jiang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | School of Automation Science and Electrical Engineering Beihang University |
| 発表年月日 | 2013-11-16 |
| 資料番号 | EMD2013-80 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 298 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |