講演名 2013-11-27
サイドチャネル攻撃耐性を持つIO-Masked Dual-Rail ROMに統合可能なPUF回路の検討と設計(ディジタル集積回路,デザインガイア2013-VLSI設計の新しい大地-)
西村 隆志, 菅谷 周平, 竹内 章浩, 汐崎 充, 藤野 毅,
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抄録(和) 複製困難な製造ばらつき情報を抽出しチップ固有の値を生成するPhysical Unclonable Function(PUF)を用いてデバイス固有の暗号鍵を生成する研究が注目されている.一方で,回路の動作時に発生する二次的な情報(消費電力や漏洩電磁波,処理時間等)から秘密情報を推定するサイドチャネル攻撃が暗号回路への脅威となっており,PUFとサイドチャネル攻撃対策の技術両立が今後必要となる.本発表では、我々が提案してきたサイドチャネル攻撃対策IO-Masked Dual-Rail ROM(MDR-ROM)のデータ読み出し遅延時間比較を用いたPUFを提案する.また,シミュレーションを用いて製造ばらつきに基づいたランダムな値を生成できることを示す.
抄録(英) Physical unclonable function (PUF) has been proposed as tamper-resistant technique to protect secure device. The PUF extracts inherent physical variation such as transistor size, threshold voltage etc. and creates unique IDs. In addition, tamper-resistant devices require protecting against side-channel attacks which reveal a secret key of a cryptographic circuit by measuring power consumption or electromagnetic radiation during the cryptographic operations. This paper proposes a new PUF to combine with IO-Masked Dual-Rail ROM, which was proposed as a countermeasure against side-channel attacks. And, we confirmed that each PUF circuit can generate a unique ID.
キーワード(和) PUF / サイドチャネル攻撃 / AES / MDR-ROM
キーワード(英) PUF / Side-Channel Attack / AES / MDR-ROM
資料番号 CPM2013-112,ICD2013-89
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2013/11/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) サイドチャネル攻撃耐性を持つIO-Masked Dual-Rail ROMに統合可能なPUF回路の検討と設計(ディジタル集積回路,デザインガイア2013-VLSI設計の新しい大地-)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Design and study of PUF Circuit using IO-Masked Dual-Rail ROM with Resistance against Side-Channel Attacks
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) PUF / PUF
キーワード(2)(和/英) サイドチャネル攻撃 / Side-Channel Attack
キーワード(3)(和/英) AES / AES
キーワード(4)(和/英) MDR-ROM / MDR-ROM
第 1 著者 氏名(和/英) 西村 隆志 / Takashi NISHIMURA
第 1 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部研究科
Graduate School of Science and Engineering, Ritsumeikan University
第 2 著者 氏名(和/英) 菅谷 周平 / Syuuhei SUGAYA
第 2 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部研究科
Graduate School of Science and Engineering, Ritsumeikan University
第 3 著者 氏名(和/英) 竹内 章浩 / Akihiro TAKEUCHI
第 3 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部研究科
Graduate School of Science and Engineering, Ritsumeikan University
第 4 著者 氏名(和/英) 汐崎 充 / Mitsuru SHIOZAKI
第 4 著者 所属(和/英) 立命館大学総合理工学部研究機構
Research Organization of Science & Engineering, Ritsumeikan University
第 5 著者 氏名(和/英) 藤野 毅 / Takeshi FUJINO
第 5 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部
Faculty of Science and Engineering, Ritsumeikan University
発表年月日 2013-11-27
資料番号 CPM2013-112,ICD2013-89
巻番号(vol) vol.113
号番号(no) 323
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日