| 講演名 | 2014-03-10 微摺動機構による電気接点の劣化現象:接触抵抗変動のモデリング(5) 和田 真一, 越田 圭治, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.本論文では,開発した微摺動機構2に対して2種類の入力波形(周期的矩形波および周期的衝撃波)を用いて電気接点の劣化現象を引き起こし,接触電圧の時系列変動データを取得する.このデータをカットオフ周波数1.6Hzによって低周波成分と高周波成分とに分け,それぞれに対して位相面解析によりこの時系列変動データには準安定な周期閉軌道および分岐現象が存在することを見出す.また,周波数における大小2つの理論矩形波により,接触電圧の時系列変動データは近似可能であることを示唆する.さらに,理論波の位相面解析にも同様な安定周期閉軌道と分岐現象がみられるが,実験波との差異も存在する.これらの現象は系の入力の非線形性に依存していると考えられるが,振幅や周波数のゆらぎやデータの飛び等に由来すると考えられる差異に関しては,系に内在する非線形性を考慮する必要を示唆する. |
| 抄録(英) | Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and have studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. By using the mechamism, "Micro-Sliding Mechanism II", which is developed on trial, they obtained time-sequential fluctuation data of contact voltage. It is shown that there are quasi-stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon in the data by using phase plane analysis. It is indicated that the experimental data are able to be simulated by large and small theoretical rectangular wave in frequency. It is also shown that there are stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon similar to the above in the theoretical data by using phase plane analysis and that there are different phenomena from the above. It is suggested that there is necessary to consider the non-linearity in the system for analyzing the differences caused by the fluctuation of amplitudes or frequencies and data jumping although the phenomena depend often upon the non-linearity of the inputs into the system. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 非線形性 / 位相面解析 / 軌道 / 分岐 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / non-linearity / phase plane analysis / orbit / bifurcation |
| 資料番号 | NLP2013-176 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | NLP |
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| 開催期間 | 2014/3/3(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Nonlinear Problems (NLP) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 微摺動機構による電気接点の劣化現象:接触抵抗変動のモデリング(5) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism:Modeling about Fluctuation of Contact Resistance(5) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 非線形性 / non-linearity |
| キーワード(6)（和/英） | 位相面解析 / phase plane analysis |
| キーワード(7)（和/英） | 軌道 / orbit |
| キーワード(8)（和/英） | 分岐 / bifurcation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 慶鷹義塾大学:日本工業大学 Emeritus Keio University:Nippon Institute ofThechnology |
| 発表年月日 | 2014-03-10 |
| 資料番号 | NLP2013-176 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 486 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |