講演名 2014-03-04
顕微電界誘起光第二次高調波発生測定法を用いた有機EL素子のキャリヤ挙動の評価(有機デバイス,有機半導体材料,機能性材料,一般)
貞方 敦雄, 矢野 椋太, 田口 大, 間中 孝彰, 岩本 光正,
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抄録(和) 軸対称偏光パルスレーザーによる顕微電界誘起光第二次高調波発生測定法を用いて、二層有機EL素子(IZO/α-NPD/Alq_3/Al)のα-NPD層の膜厚方向の局所的な電界を検出した。EL発光面内での電界分布と有機積層界面の界面蓄積電荷量分布およびEL発光強度分布を測定し、EL発光面内でのEL発光に至るキャリヤ挙動についてMaxwell-Wagner効果に基づき考察した。その結果、二層有機EL素子のEL発光時において界面蓄積電荷分布とEL発光強度分布に相関があること、正孔による界面蓄積電荷が多い個所でEL発光強度が強くなることが示された。
抄録(英) A novel microscopic electric-field-induced optical second-harmonic generation (EFISHG) measurement system using a radial polarized beam has been developed. The developed system can visualize electric fields along with thickness direction, electric fields and interfacial accumulation charge distributions on emitting surface, in double-layer organic light-emitting diodes with a structure of IZO/α-NPD/Alq_3/Al. During device operation, we measured the electric field of α-NPD and EL intensity distributions on the surface of light emitting layer, and showed the relationship between the interfacial accumulation charge distribution and EL light intensity distribution. Results were analyzed based on the Maxwell-Wagner effect model.
キーワード(和) 顕微電界誘起光第二次高調波発生測定 / 有機EL素子 / 電界分布 / 界面電荷分布 / EL発光強度分布
キーワード(英) microscopic EFISHG measurement using a radial polarized laser beam / organic light-emitting diodes / visualizing of electric fields and interfacial accumulation charge distributions
資料番号 OME2013-94
発行日

研究会情報
研究会 OME
開催期間 2014/2/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Organic Material Electronics (OME)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 顕微電界誘起光第二次高調波発生測定法を用いた有機EL素子のキャリヤ挙動の評価(有機デバイス,有機半導体材料,機能性材料,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of Carrier Behavior in Double-Layer Organic Light-Emitting Diodes By Microscopic Electric-Field-Induced Optical Second-Harmonic Generation Measurement
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 顕微電界誘起光第二次高調波発生測定 / microscopic EFISHG measurement using a radial polarized laser beam
キーワード(2)(和/英) 有機EL素子 / organic light-emitting diodes
キーワード(3)(和/英) 電界分布 / visualizing of electric fields and interfacial accumulation charge distributions
キーワード(4)(和/英) 界面電荷分布
キーワード(5)(和/英) EL発光強度分布
第 1 著者 氏名(和/英) 貞方 敦雄 / Atsuo SADAKATA
第 1 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院理工学研究科
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 矢野 椋太 / Ryota YANO
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院理工学研究科
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 田口 大 / Dai TAGUCHI
第 3 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院理工学研究科
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 間中 孝彰 / Takaaki MANAKA
第 4 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院理工学研究科
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 岩本 光正 / Mitsumasa IWAMOTO
第 5 著者 所属(和/英) 東京工業大学大学院理工学研究科
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
発表年月日 2014-03-04
資料番号 OME2013-94
巻番号(vol) vol.113
号番号(no) 461
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日