講演名 | 2014-03-11 得点による競争原理を用いた静的解析ツールによる欠陥除去の促進 新井 慧, 坂本 一憲, 鷲崎 弘宜, 深澤 良彰, |
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抄録(和) | プログラムの欠陥を検出する静的解析ツールは,ソフトウェアに作りこまれた欠陥の早期発見に役立つことが知られている.一方,欠陥の誤検出や些細な欠陥の報告が多すぎるといった問題点があり,その有用性にもかかわらず静的解析ツールの普及は進んでいない.上述の問題点を解決するため,より正確な静的解析を実現するための研究が広く進められている.しかし,これらの研究は,検出数の多さから欠陥が無視されがちになる問題を直接的に解決するための研究ではない.本論文では,静的解析ツールを利用する開発者の欠陥修正に対するモチベーションを向上させ,報告された欠陥がより多く修正されるような仕組みを提案する.静的解析によって報告される欠陥をより多く修正させるように動機づけることで,開発者が報告される欠陥を無視しがちになる問題を緩和し,ソフトウェアの品質向上を図る.提案する仕組みの有用性を確認するため,提案する仕組みを導入したツールを開発し,被験者実験を行った結果,ツールを利用することによっておよそ1.5倍ほど多くの欠陥が修正されることを確認した. |
抄録(英) | |
キーワード(和) | 静的解析ツール / バグパターン / ゲーミフィケーション |
キーワード(英) | |
資料番号 | SS2013-81 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SS |
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開催期間 | 2014/3/4(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Software Science (SS) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 得点による競争原理を用いた静的解析ツールによる欠陥除去の促進 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Facilitate Defect Removal Using Static Analysis Tools by introducing competition |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 静的解析ツール |
キーワード(2)(和/英) | バグパターン |
キーワード(3)(和/英) | ゲーミフィケーション |
第 1 著者 氏名(和/英) | 新井 慧 / Satoshi ARAI |
第 1 著者 所属(和/英) | 早稲田大学 Waseda University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 坂本 一憲 / Kazunori SAKAMOTO |
第 2 著者 所属(和/英) | 国立情報学研究所 National Institute of Informatics |
第 3 著者 氏名(和/英) | 鷲崎 弘宜 / Hironori WASHIZAKI |
第 3 著者 所属(和/英) | 早稲田大学 Waseda University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 深澤 良彰 / Yoshiaki FUKAZAWA |
第 4 著者 所属(和/英) | 早稲田大学 Waseda University |
発表年月日 | 2014-03-11 |
資料番号 | SS2013-81 |
巻番号(vol) | vol.113 |
号番号(no) | 489 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |