| 講演名 | 2014-02-10 SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法(低消費電力テスト,VLSI設計とテスト及び一般) 高橋 慶安, 山崎 紘史, 細川 利典, 吉村 正義, |
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| 抄録(和) | ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高い消費電力は過度のIRドロップを引き起こす可能性があり,歩留まり低下の原因のひとつに挙げられる.ドントケア判定とドントケア割当てを用いたテストパターン修正法がキャプチャ時の消費電力を削減するうえで効果的であることが知られている.従来提案されている低消費電力指向ドントケア割当て法はフリップフロップでの遷移回数を削減するために逐次的にフリップフロップの遷移を抑制する処理を実行する.本論文では,複数のフリップフロップの遷移を同時に抑制するために,SATを用いた新しい低消費電力指向ドントケア割当て法を提案する.実験結果は提案法がJP-fillと比較してISCAS'89とITC'99ベンチマーク回路に対して効果的であったことを示す. |
| 抄録(英) | High power dissipation can occur by high launch-induced switching activity when the response to a test pattern is captured by flip-flops in at-speed scan testing, resulting in excessive IR drop, which may cause significant capture-induced yield loss in the deep submicron era. It is known that test modification methods using X-identification and X-filling are effective to reduce capture power dissipation. Conventional low power dissipation oriented X-filling methods are consecutively conducted for each flip-flop to reduce the number of transition at flip-flops. In this paper, we propose a novel low power dissipation oriented X-filling method using SAT engine which conducts simultaneous X-filling for some flip-flops. Experimental results show that the proposed method was effective for ISCAS'89 and ITC'99 benchmark circuits compared with justification-probability-based fill. |
| キーワード(和) | 遷移故障 / キャプチャ消費電力 / ドントケア割当て / 充足可能性問題 |
| キーワード(英) | transition faults / capture power consumption / don't care filling / Satisfiability Problem |
| 資料番号 | DC2013-83 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2014/2/3(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法(低消費電力テスト,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Low Power Dissipation Oriented Don't Care Filling Method Using SAT |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | キャプチャ消費電力 / capture power consumption |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケア割当て / don't care filling |
| キーワード(4)（和/英） | 充足可能性問題 / Satisfiability Problem |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 慶安 / Yoshiyasu TAKAHASHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学大学院生産工学研究科 Graduate School of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi YAMAZAKI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学大学院生産工学研究科 Graduate School of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori HOSOKAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学生産工学部 College of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi YOSHIMURA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院システム情報科学研究院 Faculty of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University |
| 発表年月日 | 2014-02-10 |
| 資料番号 | DC2013-83 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 430 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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