| 講演名 | 2014-02-10 モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般) 小松 巡, 岩田 大志, 山口 賢一, |
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| 抄録(和) | 近年,半導体プロセスの微細化により,動作速度や電力消費に与える配置配線の影響が大きくなっており,テスト容易化設計時には設計変更によってレイアウトへ及ぼす影響を最小化する必要がある.特に,skewed-load方式による遅延故障テストや,非同期式回路に対するL1L2^*スキャン設計などのテスト容易化設計では,故障検出率を向上させるためにスキャンチェーンの接続順に制約を付与することがあり,レイアウトへ及ぼす影響が大きくなる傾向にある.そこで本稿では,モジュール間を接続する信号線数からモジュール間の距離を算出し,算出した距離に基づき,モジュールの独立性を抑制するスキャンチェーン構築方法を提案した.実験では,提案手法は先行研究に比べほぼ同じ面積増加で,モジュール間結合増加率を大幅に抑制した. |
| 抄録(英) | It is necessary to minimize the impact on the layout of the design changes to Design for Testability (DFT). Especially, the skewed-load delay fault testing and asynchronous L1L2^* scan design have constraints on the connection order of scan chains in order to improve the fault coverage. Therefore, module independences are missing because of the restrictions on the connection order of the scan chain. In this paper, we propose a scan chain construction method that takes into account the independence of the module. |
| キーワード(和) | テスト容易化設計 / LIL2^*スキャン設計 / スキャンチェーン / 2部完全スキャン設計 / モジュール間結合増加率 |
| キーワード(英) | Design for Testability / L1L2^* Scan Design / scan chain / bipartite full scan design / module coupling overhead |
| 資料番号 | DC2013-79 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2014/2/3(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Module Coupling Overhead Aware Scan Chain Construction |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト容易化設計 / Design for Testability |
| キーワード(2)（和/英） | LIL2^*スキャン設計 / L1L2^* Scan Design |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンチェーン / scan chain |
| キーワード(4)（和/英） | 2部完全スキャン設計 / bipartite full scan design |
| キーワード(5)（和/英） | モジュール間結合増加率 / module coupling overhead |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小松 巡 / Meguru KOMATSU |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校電子情報工学専攻 Faculty of Advanced Engineering, Nara National Collage of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岩田 大志 / Hiroshi IWATA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校情報工学科 Department of Information Engineering, Nara National Collage of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山口 賢一 / Ken'ich YAMAGUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校情報工学科 Department of Information Engineering, Nara National Collage of Technology |
| 発表年月日 | 2014-02-10 |
| 資料番号 | DC2013-79 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 430 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |