講演名 | 2014-01-28 NANDフラッシュメモリの信頼性の評価(ポスターセッション,学生・若手研究会) 北村 雄太, 田中丸 周平, 竹内 健, |
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抄録(和) | |
抄録(英) | |
キーワード(和) | NANDフラッシュメモリ / 信頼性 / データ保持 |
キーワード(英) | NAND flash memory / reliability / data retention |
資料番号 | ICD2013-117 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 2014/1/21(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | NANDフラッシュメモリの信頼性の評価(ポスターセッション,学生・若手研究会) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Reliability Evaluation of NAND Flash Memories |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | NANDフラッシュメモリ / NAND flash memory |
キーワード(2)(和/英) | 信頼性 / reliability |
キーワード(3)(和/英) | データ保持 / data retention |
第 1 著者 氏名(和/英) | 北村 雄太 / Yuta KITAMURA |
第 1 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 田中丸 周平 / Shuhei TANAKAMARU |
第 2 著者 所属(和/英) | 東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering University of Tokyo |
第 3 著者 氏名(和/英) | 竹内 健 / Ken TAKEUCHI |
第 3 著者 所属(和/英) | 東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering University of Tokyo |
発表年月日 | 2014-01-28 |
資料番号 | ICD2013-117 |
巻番号(vol) | vol.113 |
号番号(no) | 419 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 40 |
発行日 |