講演名 2014-01-28
NANDフラッシュメモリ向けエラー予測LDPC符号(ポスターセッション,学生・若手研究会)
徳冨 司, 田中丸 周平, 竹内 健,
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和) ソリッド・ステート・ドライブ / NANDフラッシュメモリ / LDPC符号 / 信頼性
キーワード(英) solid-state-drive / NAND flash memory / LDPC / reliability
資料番号 ICD2013-108
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2014/1/21(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) NANDフラッシュメモリ向けエラー予測LDPC符号(ポスターセッション,学生・若手研究会)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Error-Prediction LDPC for NAND Flash Memory
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ソリッド・ステート・ドライブ / solid-state-drive
キーワード(2)(和/英) NANDフラッシュメモリ / NAND flash memory
キーワード(3)(和/英) LDPC符号 / LDPC
キーワード(4)(和/英) 信頼性 / reliability
第 1 著者 氏名(和/英) 徳冨 司 / Tsukasa TOKUTOMI
第 1 著者 所属(和/英) 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科
Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University
第 2 著者 氏名(和/英) 田中丸 周平 / Shuhei TANAKAMARU
第 2 著者 所属(和/英) 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科:東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University:Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering University of Tokyo
第 3 著者 氏名(和/英) 竹内 健 / Ken TAKEUCHI
第 3 著者 所属(和/英) 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科
Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University
発表年月日 2014-01-28
資料番号 ICD2013-108
巻番号(vol) vol.113
号番号(no) 419
ページ範囲 pp.-
ページ数 22
発行日