講演名 2014-01-29
Si上III-V族化合物半導体ナノワイヤの集積 : 高性能縦型FETと低電圧トランジスタ応用(先端CMOSデバイス・プロセス技術(IEDM特集))
冨岡 克広, 福井 孝志,
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抄録(和) 有機金属気相選択成長法によるSi上のIII-V族化合物半導体ナノワイヤの異種集積技術、等価酸化膜厚1nm以下のゲート酸化膜と、変調ドープ構造を有した高性能縦型FETの作製、III-Vナノワイヤ/Siヘテロ接合界面を用いた急峻なサブスレッショルド係数をもつ低電圧トランジスタ応用の最近の研究進展について述べる。
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 SDM2013-139
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2014/1/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) Si上III-V族化合物半導体ナノワイヤの集積 : 高性能縦型FETと低電圧トランジスタ応用(先端CMOSデバイス・プロセス技術(IEDM特集))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Integration of III-V nanowires on Si : From high-performance vertical FET to steep-slope switch
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 冨岡 克広 / Katsuhiro Tomioka
第 1 著者 所属(和/英) 北海道大学・大学院情報科学研究科および量子集積エレクトロニクス研究センター
Graduate School of Information Science and Technology, Research Center for Integrated Quantum Electronics (RCIQE), Hokkaido University
第 2 著者 氏名(和/英) 福井 孝志 / Takashi Fukui
第 2 著者 所属(和/英) 科学技術振興機構さきがけ
Japan Science and Technology Agency (JST)-PRESTO
発表年月日 2014-01-29
資料番号 SDM2013-139
巻番号(vol) vol.113
号番号(no) 420
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日