講演名 2013-10-03
超伝導ストリップイオン検出器による巨大分子の高感度質量分析(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般)
全 伸幸, 志岐 成友, 藤井 剛, 浮辺 雅宏, 小池 正記, 大久保 雅隆,
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抄録(和) 従来,飛行時間型質量分析計(Time-Of-Flight Mass Spectrometer; TOF MS)の分子検出部にはマイクロチャンネルプレート(Microchannel Plate; MCP)が用いられてきたが,分子の質量が大きくなるにつれて検出感度が劣化するという問題点があった.超伝導検出器は,巨大分子の衝突に対しても100%の検出効率を示すことから,近年いくつかの種類の超伝導検出器が開発されている.中でも,厚さ数十nm,線幅数百nmの超伝導ストリップ線から成る超伝導ストリップイオン検出器(Superconducting Strip Ion Detector; SSID)は,最先端のMCPと同程度のナノ秒高速応答性を示し,分子量非依存の検出感度をTOF MSに付与できることから,次世代の分子検出器として期待されている.本研究では,まずSSIDの検出原理を述べ、大面積と高速応答性を両立した並列型SSIDの検出器特性を紹介する.
抄録(英) Superconducting detectors are promising for next-generation ion detectors for time-of-flight mass spectrometry (TOF MS). They can achieve a mass-independent detection efficiency even for macromolecules because output pulses are produced through the deposited kinetic energy of tens of key at ion impact. Among the superconducting detectors, superconducting nano-strip ion detectors (SSIDs) which consist of superconducting strips have a fast response time of ~ns, and we have succeeded in realizing the large detection area without degrading the response time by the parallel configuration of superconducting strips. In this study, the principle of SSIDs and the detecting properties of the parallel-configured SSID will be summarized.
キーワード(和) 超伝導ストリップ / SSID / 質量分析 / TOF MS / 生体分子
キーワード(英) Superconducting strip / SSID / TOF MS / Biomolecule
資料番号 SCE2013-31
発行日

研究会情報
研究会 SCE
開催期間 2013/9/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Superconductive Electronics (SCE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 超伝導ストリップイオン検出器による巨大分子の高感度質量分析(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Superconducting strip ion detectors for high throughput macromolecules mass spectrometry
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 超伝導ストリップ / Superconducting strip
キーワード(2)(和/英) SSID / SSID
キーワード(3)(和/英) 質量分析 / TOF MS
キーワード(4)(和/英) TOF MS / Biomolecule
キーワード(5)(和/英) 生体分子
第 1 著者 氏名(和/英) 全 伸幸 / Nobuyuki ZEN
第 1 著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST),Research Institute of Instrumentation
第 2 著者 氏名(和/英) 志岐 成友 / Shigetomo SHIKI
第 2 著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST),Research Institute of Instrumentation
第 3 著者 氏名(和/英) 藤井 剛 / Go FUJII
第 3 著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST),Research Institute of Instrumentation
第 4 著者 氏名(和/英) 浮辺 雅宏 / Masahiro UKIBE
第 4 著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST),Research Institute of Instrumentation
第 5 著者 氏名(和/英) 小池 正記 / Masaki KOIKE
第 5 著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST),Research Institute of Instrumentation
第 6 著者 氏名(和/英) 大久保 雅隆 / Masataka OHKUBO
第 6 著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST),Research Institute of Instrumentation
発表年月日 2013-10-03
資料番号 SCE2013-31
巻番号(vol) vol.113
号番号(no) 232
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日