講演名 | 2013-08-23 周波数コーディングパルス列を用いた遠端反射ブリルアン利得解析によるスプリッタ下部測定技術(光ファイバケーブル・コード,通信用光ファイバ,光ファイバ線路構成部品,光線路保守監視・試験技術,接続・配線技術,光ファイバ測定技術,光コネクタ,ホーリーファイバ,機能性光ファイバ,光信号処理,光ファイバ型デバイス,光測定器,レーザ加工,ハイパワーレーザ光輸送,光給電,一般) 鬼頭 千尋, 伊藤 文彦, 高橋 央, 戸毛 邦弘, |
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抄録(和) | 我々は既存の光アクセス網を変更することなくスプリッタ上部からスプリッタ下部線路の個別損失分布を取得可能な方法として、遠端反射光とブリルアン利得解析を利用した試験技術を提案している。本稿では、従来手法の信号対雑音比を向上するため、新たに周波数コーディングパルス列を試験光に用いることで並列測定を可能にし、時間当たりの平均化回数を増加する手法を提案する。また、12波からなる試験光を用いて8分岐スプリッタ下部の個別損失分布を測定し、4.5 dBの信号対雑音比の向上を確認したので報告する。 |
抄録(英) | We have proposed a PON fault location technique that uses end reflection beam and Brillouin gain analysis, which can locate individual fault points in branched optical fibers without the need to add optical components to the PON system. In this paper, we propose a technique for enhancing the dynamic range of that end reflection assisted Brillouin analysis, where frequency coded pulse trains are used for the probe and pump pulse to conduct multi-measurement at the same time. 12-frequency code multiplexing is used for monitoring 8-branched fibers, and signal to noise ratio is improved by 4.5 dB. |
キーワード(和) | 周波数多重 / ブリルアン利得解析 / PON / 損失分布 / 保守 |
キーワード(英) | Frequency Division Multiplexing / Brillouin Gain Analysis / PON / Loss Distribution / Maintenance |
資料番号 | OFT2013-17 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | OFT |
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開催期間 | 2013/8/15(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Optical Fiber Technology (OFT) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 周波数コーディングパルス列を用いた遠端反射ブリルアン利得解析によるスプリッタ下部測定技術(光ファイバケーブル・コード,通信用光ファイバ,光ファイバ線路構成部品,光線路保守監視・試験技術,接続・配線技術,光ファイバ測定技術,光コネクタ,ホーリーファイバ,機能性光ファイバ,光信号処理,光ファイバ型デバイス,光測定器,レーザ加工,ハイパワーレーザ光輸送,光給電,一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | End Reflection Assisted Brillouin Analysis for Monitoring PONs with Frequency-coded Pulse Train |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 周波数多重 / Frequency Division Multiplexing |
キーワード(2)(和/英) | ブリルアン利得解析 / Brillouin Gain Analysis |
キーワード(3)(和/英) | PON / PON |
キーワード(4)(和/英) | 損失分布 / Loss Distribution |
キーワード(5)(和/英) | 保守 / Maintenance |
第 1 著者 氏名(和/英) | 鬼頭 千尋 / Chihiro KITO |
第 1 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所 NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation |
第 2 著者 氏名(和/英) | 伊藤 文彦 / Fumihiko ITO |
第 2 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所 NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation |
第 3 著者 氏名(和/英) | 高橋 央 / Hiroshi TAKAHASHI |
第 3 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所 NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation |
第 4 著者 氏名(和/英) | 戸毛 邦弘 / Kunihiro TOGE |
第 4 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所 NTT Access Network Service Systems Laboratories, NTT Corporation |
発表年月日 | 2013-08-23 |
資料番号 | OFT2013-17 |
巻番号(vol) | vol.113 |
号番号(no) | 183 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |