| 講演名 | 2013-06-21 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)(材料デバイスサマーミーティング) 和田 真一, 越田 圭治, 益田 直樹, 柳 国男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 著者らは,いくつかの加振機構(ハンマリング加振機構,微摺動機構,タッピング・デバイスなど)により,実際の微小振動による電気接点の影響を検討してきた.著者らは,鉛直方向のハンマリング加振によって,電気接点に実際の環境と類似した振動を加えることのできる機構を設計・開発し,さらにこれを用いた微小振動の影響に関する解析を行ってきた.また,ハンマリング加振機構を用いて,基板上の電子デバイスのような比較的軽量な対象物を解析するのに必要な"有効質量","有効加振力","有効加速度"のような基本的力学パラメータを評価する,簡便でかつ実際的な評価方法を提案してきた.本論文では,これらのパラメータに加え"付加質量パラメータ"を導入し,本方法論では不可欠である付加質量の影響および上記評価方法における力学パラメータの妥当性を検討する.そして,ハンマリング加振機構(HOM)により,上記評価方法における"有効加速度"のデータと静電容量変位計による変位から計算したデータについて比較検討する. |
| 抄録(英) | Authors have studied the influence on electrical contacts by actual micro-oscillation using some oscillating mechanisms (Hammering Oscillating Mechanism, Micro-Sliding Mechanism, Tapping Device etc.). In addition, they have proposed a simple and practical protocol to estimate the fundamental dynamical parameter such as an "effective mass", an "effective force" and an "effective acceleration" of the electrical devices on the PCB (printed circuit board), which are comparatively lightweight, using hammering oscillating mechanism. In this paper, they introduce an "additional mass parameter" in addition to the above dynamical parameters. They consider the influence of an additional mass which is indispensable for the protocol and the validation of the dynamical parameters. And they compare the data of an "effective acceleration" of the protocol with the data calculated by a capacitance displacement sensor by using Hammering Oscillating Mechanism (HOM) |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 有効質量 / 有効加振力 / 有効加速度 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / effective mass / effective force / effective acceleration |
| 資料番号 | EMD2013-17,CPM2013-32,OME2013-40 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
|---|---|
| 開催期間 | 2013/6/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)(材料デバイスサマーミーティング) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Hammering Oscillating Mechanism or a Micro-Sliding Mechanism : A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism (27) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 有効質量 / effective mass |
| キーワード(6)（和/英） | 有効加振力 / effective force |
| キーワード(7)（和/英） | 有効加速度 / effective acceleration |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 益田 直樹 / Naoki MASUDA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 柳 国男 / Kunio YANAGI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 日本工業大学 Nippon Institute of Thechnology |
| 発表年月日 | 2013-06-21 |
| 資料番号 | EMD2013-17,CPM2013-32,OME2013-40 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 97 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |