講演名 2013-06-17
複数の電流ループを利用した磁界分布制御の基本検討 : 短距離無線認証のために(WPAN,センサ関連技術,一般)
佐々木 愛一郎, 小笠原 隆行, 藤井 孝治, 森村 浩季, 加々見 修,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) リーダ/ライタから半径数十cm以内のエリアで有効な短距離無線認証システムを提案する.このようなシステムでは,認証エリア外での電磁界を急激に減衰させる技術が必要とされる.本稿では,複数の電流ループによって準静磁界の空間分布を制御する方法について説明する.本手法のエッセンスは,電流ループ群の合計磁気モーメントがゼロになるよう個々のループの電流値を制御し,認証エリア外の準静磁界を急激に減衰させることにある.具体例として,同心円状二重電流ループ近傍の磁界分布を評価し,磁界の急減衰特性を確認することにより,本手法の基本的な有効性を実証した.
抄録(英) We propose a concept of wireless identification systems whose communication area is restricted to about 50 cm from a reader/writer. To realize such systems, it is required that magnetic fields are rapidly attenuated outside the communication area. In this paper, a method for controlling spatial distribution of magnetoquasistatic fields is investigated. The key concept of the method is designing multiple current loops so as to cancel the sum of magnetic moments associated with the loops. To validate the method, we evaluated magnetic-field distribution around a concentric double-current loop and observed the rapid attenuation characteristics of the fields. Validity of the method was experimentally demonstrated.
キーワード(和) 準静磁界 / 電流ループ / 磁気モーメント / NFC / 認証エリア
キーワード(英) Magnetoquasistatic field / Current loop / Magnetic moment / NFC / Communication area
資料番号 SRW2013-13
発行日

研究会情報
研究会 SRW
開催期間 2013/6/10(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Short Range Wireless Communications(SRW)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 複数の電流ループを利用した磁界分布制御の基本検討 : 短距離無線認証のために(WPAN,センサ関連技術,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Shaping Magnetic-Field Patterns with Multiple Current Loops : Toward Short-Range Wireless Identification
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 準静磁界 / Magnetoquasistatic field
キーワード(2)(和/英) 電流ループ / Current loop
キーワード(3)(和/英) 磁気モーメント / Magnetic moment
キーワード(4)(和/英) NFC / NFC
キーワード(5)(和/英) 認証エリア / Communication area
第 1 著者 氏名(和/英) 佐々木 愛一郎 / Ai-ichiro SASAKI
第 1 著者 所属(和/英) NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
NTT Microsystem Integration Laboratories
第 2 著者 氏名(和/英) 小笠原 隆行 / Takayuki OGASAWARA
第 2 著者 所属(和/英) NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
NTT Microsystem Integration Laboratories
第 3 著者 氏名(和/英) 藤井 孝治 / Koji FUJII
第 3 著者 所属(和/英) NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
NTT Microsystem Integration Laboratories
第 4 著者 氏名(和/英) 森村 浩季 / Hiroki MORIMURA
第 4 著者 所属(和/英) NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
NTT Microsystem Integration Laboratories
第 5 著者 氏名(和/英) 加々見 修 / Osamu KAGAMI
第 5 著者 所属(和/英) NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
NTT Microsystem Integration Laboratories
発表年月日 2013-06-17
資料番号 SRW2013-13
巻番号(vol) vol.113
号番号(no) 85
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日