| 講演名 | 2013-06-21 リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法(設計/テスト/検証) 池田 龍史, 三浦 幸也, |
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| 抄録(和) | ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability (NBTI)やPositive Bias Temperature Instability (PBTI), Chanel Hot Carrier (CHC)と呼ばれる劣化現象がLSIの性能を低下させる主な要因となっている.これらの劣化現象によってトランジスタの動作速度が低下し,信号伝搬に遅延が生じることでLSIが誤動作してしまうという問題がある.本研究ではLSI内部に2種類のリング発振器を組み込み,劣化によるリング発振器の周期の変化量からトランジスタ1個あたりの遅延の増加量を推定することを可能とし,増加遅延を劣化の指標として用いた.また劣化によって変化したトランジスタのしきい値を推定可能にした.回路シミュレーションにより,トランジスタ1個あたりの遅延の増加を5%以内の誤差,トランジスタのしきい値の増加を2%以内の誤差で推定できることを確認した. |
| 抄録(英) | Aging called Negative Bias Temperature Instability (NBTI), Negative Bias Temperature Instability (NBTI) and Chanel Hot Carrier (CHC) occurs in nanoscale transistors, which is a major factor for degrading the performance of LSIs. Operating speed of transistors is decreased by aging, and LSI malfunctions by a delay in signal propagation. In this paper, we present a method for estimating the amount of increase in delay time and a threshold value per one transistor from change in the period of two ring oscillators by aging. It was verified by circuit simulation that the proposed method can estimate with an error rate of less than 5% of the delay time increase and an error of less than 2% of the threshold voltage increase. |
| キーワード(和) | NBTI / PBTI / CHC / リング発振器 / 信号遅延 |
| キーワード(英) | NBTI / PBTI / CHC / ring oscillators / signal delay |
| 資料番号 | DC2013-15 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2013/6/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法(設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method of transistor degradation estimation using ring oscillators |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | NBTI / NBTI |
| キーワード(2)（和/英） | PBTI / PBTI |
| キーワード(3)（和/英） | CHC / CHC |
| キーワード(4)（和/英） | リング発振器 / ring oscillators |
| キーワード(5)（和/英） | 信号遅延 / signal delay |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 池田 龍史 / Tatsunori IKEDA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Yukiya MIURA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 首都大学東京システムデザイン学部:独立行政法人科学技術振興機構 Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University:Japan Science and Technology Agency, CREST |
| 発表年月日 | 2013-06-21 |
| 資料番号 | DC2013-15 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 104 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |