| 講演名 | 2013-06-21 インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案(設計/テスト/検証) 永元 雄宙, 小島 英春, 土屋 達弘, |
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| 抄録(和) | 本研究では,ソフトウェアのインタラクションテストにおいて, テストの実行結果からその原因である故障インタラクションを特定するテストケース生成手法について議論する.提案手法では,予め故障インタラクションを特定可能になるようにテストケース集合を生成する.この生成されたテストケース集合をすべて実行した結果より故障インタラクションを特定することができる.提案手法の動作は以下の通りである.まず,原因特定を目的としないテスト手法であるペアワイズテスト手法用のテストケース集合を作成する.次に,このテスト集合の実行結果から原因として特定できないインタラクションを数え上げる.これらのインタラクションは,互いに区別できないという同値関係をもつ.そこで,同値類を分割する,もしくは,解消するようにテストケースを逐次的に追加していく.いくつかの問題例に提案法を適用した結果,故障特定を目的としないペアワイズテストと比べ,2, 3 倍程度のテストケース数で故障インタラクションの特定が可能であることが分かった. |
| 抄録(英) | This paper discusses the location of interaction faults in software interaction testing. Specifically, we propose a method of generating a test set that can locate any single pair-wise interaction fault, aimed at reduction of software development cost. In mathematical terms, such a test set is called a locating array. The proposed method works as follows. First, a test set is generated using an existing method for pair-wise testing. Second, pair-wise interactions that cannot be located by the test set are enumerated. Finally, addition of a test case to the test set is repeated until all pair-wise interactions can be located. We apply the proposed method to some examples to compare it with a conventional pair-wise testing method with respect to the number of test cases in resulting test sets. The results of the case study show that the proposed method can enable fault localization at the cost of 2-3 times test set size. |
| キーワード(和) | ペアワイズ法 / 故障インタラクション / locating array |
| キーワード(英) | pair-wise testing / interaction faults / locating array |
| 資料番号 | DC2013-13 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2013/6/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案(設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Approach of Generating a Test Set to Locate a Pair-Wise Interaction Fault |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ペアワイズ法 / pair-wise testing |
| キーワード(2)（和/英） | 故障インタラクション / interaction faults |
| キーワード(3)（和/英） | locating array / locating array |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 永元 雄宙 / Takahiro NAGAMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小島 英春 / Hideharu KOJIMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 土屋 達弘 / Tatsuhiro TSUCHIYA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 大阪大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University |
| 発表年月日 | 2013-06-21 |
| 資料番号 | DC2013-13 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 104 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |