| 講演名 | 2013-06-21 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法(設計/テスト/検証) 森保 孝憲, 大竹 哲史, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 本稿では,LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する.従来のシード生成法は,テスト対象故障に対してまずスキャンテストパターンを求め,それをLFSRのシードに変換するという方法であった.しかし,この方法ではスキャンテストパターンがシードに変換できる保証はなく,対象故障を検出できない場合があるといった問題があった.提案手法では,LFSRの構造を時間的に展開することでスキャンテストパターンをシードの関数として表現できることに着目し,これをテスト生成の際に制約として用いることで直接シードを求める.具体的には,その関数を表現する組合せ回路を設計し,それをシード生成対象回路に疑似的に接続し,対象故障に対してテスト生成することで直接シードを生成する.本稿ではさらに,ITC'99ベンチマーク回路を用いた実験により,提案手法の有効性を示す. |
| 抄録(英) | This paper proposes a method of LFSR seed generation for LFSR reseeding of scan-based BIST of VLSI circuits. So far, a scan test pattern detecting some fault is first generated using an ATPG tool and the generated pattern is then converted into a seed. However, the conversion does not always succeed and the fault may not be detected. For a given circuit with scan-based BIST, the proposed method first creates a seed generation model for the circuit. The seed generation model consists of the combinational part of the circuit and the XOR network representing the logic functions of LFSR seed variables for scan flip-flops. LFSR seeds for faults are then generated as test patterns of the seed generation model by using an ATPG tool. In this paper, the effectiveness of the proposed method is shown by experiments using ITC'99 benchmark circuits. |
| キーワード(和) | スキャンBIST / LFSR / リシード / シード生成 / テスト生成制約 |
| キーワード(英) | Scan-based BIST / LFSR / reseeding / seed generation / test generation constraint |
| 資料番号 | DC2013-11 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2013/6/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法(設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method of deterministic LFSR Seed Generation for Scan-Based BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | スキャンBIST / Scan-based BIST |
| キーワード(2)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(3)（和/英） | リシード / reseeding |
| キーワード(4)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(5)（和/英） | テスト生成制約 / test generation constraint |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 森保 孝憲 / Takanori MORIYASU |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Oita University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi OHTAKE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学工学部:科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業CREST Faculty of Engineering, Oita University:CREST, Japan Science and Technology Agency |
| 発表年月日 | 2013-06-21 |
| 資料番号 | DC2013-11 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 104 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |