| 講演名 | 2013-04-12 高信頼ビッグデータ向けフラッシュメモリ/ReRAM統合ソリッド・ステート・ストレージシステム(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術) 田中丸 周平, 土井 雅史, 竹内 健, |
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| 抄録(和) | 高信頼ビッグデータ向けフラッシュメモリ/ReRAM統合ソリッド・ステート・ストレージシステムを提案する.さらに,統合ストレージコントローラ内に,逆ミラーリング,エラー削減機構,ページRAID,エラーマスキングの4つの高信頼技術を提案する.逆ミラーリングとエラー削減機構はミラーリング技術である.提案の技術はエラーパターンが非対称であるNANDフラッシュメモリと,高速かつ上書きが可能で,書き換え寿命の長いReRAMを効果的に組み合わせたものである.その結果,許容できるNANDフラッシュメモリのビットエラー率(BER)は32倍改善した.これは書き換え回数が4.2倍,またはデータ保持時間が34倍改善したことに相当する. |
| 抄録(英) | Unified solid-state storage (USSS) with hybrid NAND flash memory/ReRAM provides high system-level data protection. Four highly reliable techniques, reverse-mirroring (RM), error-reduction synthesis (ERS), page-RAID, and error-masking (EM) are proposed in the unified storage controller. RM and EM are the mirroring techniques. These technologies utilize NAND error patterns asymmetries. Moreover fast, page-rewritable, and high endurance ReRAM is effectively used for temporary storage. As a result, the acceptable raw BER of NAND increases by 32-times, or endurance or data retention time of NAND is increased by 4.2 or 34-times, respectively, by applying all of the proposed techniques. |
| キーワード(和) | ストレージ / ビッグデータ / 信頼性 / ReRAM |
| キーワード(英) | Storage / Big-data / Reliability / ReRAM |
| 資料番号 | ICD2013-14 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2013/4/4(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高信頼ビッグデータ向けフラッシュメモリ/ReRAM統合ソリッド・ステート・ストレージシステム(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Unified Solid-State-Storage Architecture with NAND Flash Memory and ReRAM that Tolerates 32x Higher BER for Big-Data Applications |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ストレージ / Storage |
| キーワード(2)（和/英） | ビッグデータ / Big-data |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(4)（和/英） | ReRAM / ReRAM |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 田中丸 周平 / Shuhei TANAKAMARU |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科:東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース Dept. of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University:Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 土井 雅史 / Masafumi DOI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Dept. of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 竹内 健 / Ken TAKEUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Dept. of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University |
| 発表年月日 | 2013-04-12 |
| 資料番号 | ICD2013-14 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | 1 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |