| 講演名 | 2013-03-01 遠視野像逆フーリエ変換による光導波路端の電界分布測定方法の検討(光波センシング,光波制御・検出,光計測,ニューロ,光ファイバ(ホーリーファイバ,マルチコアファイバ等含む)伝送とファイバ光増幅・接続技術,光ファイバ計測応用,一般) 外薗 裕仁, 中島 大介, 陳 嬌, 辻野 美樹, 浜本 貴一, |
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| 抄録(和) | レーザーや光導波路の光フィールドの評価方法として、近視野像(NFP)及び遠視野像(FFP)計測が一般的に用いられる。NFPとしては通常、導波路端面近傍の光フィールドを、レンズを介して写真撮影を行う手法が知られているが、実際には、導波路端面における光強度分布の正確かつ高精度な空間的位置に対する電界分布を直接的に計測することは難しい。そこで、FFPを測定し、逆フーリエ変換によって光の出射端面における電界分布を直接計測する手法を検討した。その結果、本手法が、ある程度の精度で光導波路端面における光フィールド評価が可能であることが分かったので報告する。 |
| 抄録(英) | NFP(Near-Field Pattern) and FFP(Far-Field Pattern) measurement are commonly used by evaluation method of ray field of the leaser and light waveguide. NFP is a technique for performing photography through the lens optical field in the vicinity of the waveguide end face. In fact, it is difficult to directly measure the electric field distribution for precise and accurate spatial position of the light intensity distribution at the waveguide end face. Therefore, we research the direct measurement method of electric field distribution at the light emitting end face by reverse fourier transformation of FFP. In the result, we report that this method can evaluate the light field at the light waveguide end face with a certain accuracy. |
| キーワード(和) | 近視野像 / 遠視野像 / 電界分布計測 / フーリエ変換 / フレネルーキルヒホッフの回折公式 |
| キーワード(英) | Near field pattern / Far Field pattern / Measurement of electric field / Fourier transformation / Fresnel-Kirchhoff diffraction formula |
| 資料番号 | OCS2012-109,OFT2012-85,OPE2012-203 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OCS |
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| 開催期間 | 2013/2/21(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optical Communication Systems (OCS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 遠視野像逆フーリエ変換による光導波路端の電界分布測定方法の検討(光波センシング,光波制御・検出,光計測,ニューロ,光ファイバ(ホーリーファイバ,マルチコアファイバ等含む)伝送とファイバ光増幅・接続技術,光ファイバ計測応用,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Electric field profile evaluation at waveguide facet by using reverse fourier transformation of far-field pattern |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 近視野像 / Near field pattern |
| キーワード(2)（和/英） | 遠視野像 / Far Field pattern |
| キーワード(3)（和/英） | 電界分布計測 / Measurement of electric field |
| キーワード(4)（和/英） | フーリエ変換 / Fourier transformation |
| キーワード(5)（和/英） | フレネルーキルヒホッフの回折公式 / Fresnel-Kirchhoff diffraction formula |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 外薗 裕仁 / Hirohito HOKAZONO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学総合理工学府 Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中島 大介 / Daisuke NAKASHIMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州大学総合理工学府 Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 陳 嬌 / Jiao CHEN |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州大学総合理工学府 Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 辻野 美樹 / Miki TSUJINO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州大学総合理工学府 Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 浜本 貴一 / Kiichi HAMAMOTO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州大学総合理工学府 Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University |
| 発表年月日 | 2013-03-01 |
| 資料番号 | OCS2012-109,OFT2012-85,OPE2012-203 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 447 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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