| 講演名 | 2013-02-13 モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般) 三宅 庸資, 津森 渉, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 三浦 幸也, |
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| 抄録(和) | VLSIの微細化に伴い,劣化による回路遅延の増加が問題となっている 劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで高精度な遅延測定を行うことが有効であるが,その際には,温度や電圧の遅延への影響を考慮する必要がある チップ内の温度と電圧は,リングオシレータで構成される温度・電圧モニタ回路を用いて推定する方法が提案されている モニタ回路における製造プロセスのバラツキはリングオシレータの周波数に大きな影響を及ぼすため,高精度な温度・電圧推定を行うには製造バラツキの影響を考慮する必要がある.本論文では,製造バラツキが温度・電圧推定に与える影響を低減するため,モニタ回路における製造バラツキの影響を考慮した温度・電圧推定手法について述べる. |
| 抄録(英) | Delay increase due to aging phenomena is a critical issue of VLSIs For detecting such increase in field, a highly accurate delay measurement technology that considers the influence by temperature and voltage is strongly needed A method has been proposed that estimates chip temperature and voltage using a ring-oscillator-based monitonng circuit However, frequencies of the ring-oscillators are greatly influenced by process vanation Thus, we need to take into account the process variation for the accurate estimation of temperature and voltage. This paper discusses estimation of temperature and voltage considenng process variation for the momtonng circuit. |
| キーワード(和) | 遅延側定 / 劣化検知 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ |
| キーワード(英) | Delay measurement / Aging / Field test / Temperature and Voltage monitor / Ring Oscillator |
| 資料番号 | DC2012-89 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2013/2/6(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Temperature and voltage estimation considering manufacturing variability for a monitoring circuit |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延側定 / Delay measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化検知 / Aging |
| キーワード(3)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(4)（和/英） | 温度・電圧モニタ / Temperature and Voltage monitor |
| キーワード(5)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillator |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三宅 庸資 / Yousuke MIYAKE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 津森 渉 / Wataru TSUMORI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo SATO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seui KAJIHARA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Yukiya MIURA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 首都大学東京:独立行政法人科学技術振興機構 CREST Tokyo Metropolitan University:JST, CREST |
| 発表年月日 | 2013-02-13 |
| 資料番号 | DC2012-89 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 429 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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