| 講演名 | 2013-02-13 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般) 中村 真規, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, |
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| 抄録(和) | 本研究では断線TSV(Through-Silicon-Via)により発生する遅延故障を検出するために,隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法を提案する.断線故障TSVにおいて発生する遅延量は極めて小さく,故障の検出が困難である しかし,断線TSVで発生する遅延は正常時と比較しクロストークの影響を強く受ける 本稿では,断線TSVにおいて発生する遅延量を増加させる適切な信号を隣接TSVに印加し,遅延検出部で増加した遅延量を測定することが可能なTSV遅延故障検出回路を提案する 提案回路に必要となる遅延検出部の分解能を推定するため,シミュレーションにより回路動作時に断線TSVで発生する遅延量を求める また,提案回路より隣接TSVに信号が印加されるタイミングの差が遅延量に与える影響の評価を行う. |
| 抄録(英) | We propose a fault detection method for a TSV (through-Silicon via) considering adjacent TSVs for detecting delay caused by an open TSV Since delay caused by an open TSV is usually very small, it is difficult to detect However, the signal at an open TSV is strongly affected by crosstalk compared with a fault-free TSV In this paper, we propose a fault detection circuit for detecting delay caused by an open TSV that can provide appropriate signals to adjacent TSVs to increase delay at the open TSV, and can measure the increased delay by a delay detection circuit inside an IC In order to estimate the resolution of the delay detection circuit, we also analyze the delay caused by an open TSV using electromagnetic simulation In addition, we also evaluate the effect on delay at each TSV caused by the timing difference among transition signals provided for adjacent TSVs by the proposed circuit. |
| キーワード(和) | TSV / テスト容易化設計 / 遅延故障 |
| キーワード(英) | TSV / design for testability / delay fault |
| 資料番号 | DC2012-85 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2013/2/6(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Fault detection method considering adjacent TSVs for a delay fault in TSV |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | TSV / TSV |
| キーワード(2)（和/英） | テスト容易化設計 / design for testability |
| キーワード(3)（和/英） | 遅延故障 / delay fault |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中村 真規 / Masanori NAKAMURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース Graduate School of Advanced Technology and Science, Univ of Tokushima |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 四柳 浩之 / Hiroyuki YOTSUYANAGI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門 Institute of Technology and Science, Univ of Tokushima |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 橋爪 正樹 / Masaki HASHIZUME |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門 Institute of Technology and Science, Univ of Tokushima |
| 発表年月日 | 2013-02-13 |
| 資料番号 | DC2012-85 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 429 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |