講演名 2013-02-13
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
大栗 裕人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 堤 利幸, 山崎 浩二, 樋上 善信, 高橋 寛,
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抄録(和) 半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入力を印加しても論理回路動作が正常となる場合もあり,半断線故障の検出は困難である 本研究では,半断線故障の検出のために故障発生時の出力特性を電磁界シミュレーションを用いて調査した半断線故障発生時の出力信号へ影響を及ぼすと考えられる欠陥規模,隣接配線長およひ隣接配線への入力信号を考慮して,半断線故障を含む配線レイアウトを作成し,各要素が故障発生時の遅延時間に与える変化量を信号遅延解析結果より示す.
抄録(英) When a resistive open fault occurs, signal delay at the faulty wire may degrade circuit performance However, a resistive open fault is difficult to test since some test patterns do not cause logical errors at the faulty circuit even if the pattern provides a transition at the faulty wire In this study, we investigate the output char-acteristic of wires with a open fault using electromagnetic simulator for detecting resistive open faults We apply simulation for several layouts to estimate the delay caused by the defect size, the length of adjacent lines, and different combinations of input signals at the adjacent lines The simulated results show the effects of these parameters on the signal delay.
キーワード(和) 半断線故障 / 隣接配線 / 信号遅延
キーワード(英) resistive open fault / adjacent line / signal delay
資料番号 DC2012-84
発行日

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2013/2/6(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Dependable Computing (DC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Characteristic Analysis of Signal Delay for Resistive Open Fault Detection
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 半断線故障 / resistive open fault
キーワード(2)(和/英) 隣接配線 / adjacent line
キーワード(3)(和/英) 信号遅延 / signal delay
第 1 著者 氏名(和/英) 大栗 裕人 / Hiroto OHGURI
第 1 著者 所属(和/英) 徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
Graduate School of Advanced Technology and Science, Univ of Tokushima
第 2 著者 氏名(和/英) 四柳 浩之 / Hiroyuki YOTSUYANAGI
第 2 著者 所属(和/英) 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
Institute of Technology and Science, Univ of Tokushima
第 3 著者 氏名(和/英) 橋爪 正樹 / Masaki HASHIZUME
第 3 著者 所属(和/英) 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
Institute of Technology and Science, Univ of Tokushima
第 4 著者 氏名(和/英) 堤 利幸 / Toshiyuki TSUTSUMI
第 4 著者 所属(和/英) 明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部
School of Science and Technology, School of Information and Communication}, Meiji University
第 5 著者 氏名(和/英) 山崎 浩二 / Kouji YAMAZAKI
第 5 著者 所属(和/英) 明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部
School of Science and Technology, School of Information and Communication}, Meiji University
第 6 著者 氏名(和/英) 樋上 善信 / Yoshinobu HIGAMI
第 6 著者 所属(和/英) 愛媛大学大学院理工学研究科
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
第 7 著者 氏名(和/英) 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI
第 7 著者 所属(和/英) 愛媛大学大学院理工学研究科
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
発表年月日 2013-02-13
資料番号 DC2012-84
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 429
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日