| 講演名 | 2013-02-13 クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察(欠陥検出能力評価, VLSI設計とテスト及び一般) 清水 貴弘, 中山 裕太, 新井 雅之, 岩崎 一彦, |
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| 抄録(和) | 半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.本稿では,欠陥レベルを高精度に見積もるための一手法として,与えられたテストパターンセットに対する故障カバレージをより高精度に見積もる手法について検討する.レイアウトデータにおける任意の配線および配線対に対して,複数の欠陥粒径を仮定してクリティカルエリア解析を実行する.得られたクリティカルエリアから,ブリッジ故障に対して,各故障の発生頻度に基づく重み付き故障カバレージを導出する.また,重み付きブリッジ故障カバレージを向上させるようなATPGのソートアルゴリズムについても検討する. |
| 抄録(英) | Shrinking feature size and higher integration on semiconductor device manufacturing technology bring a problem of the gap between the defect level estimated at the design stage from the reported one for fabricated devices In this study, as one possible strategy to accurately estimate the defect level, we discuss on a fault coverage estimation with more accuracy for the given test pattern set For each possible wire and wire pair in a given layout data, we execute critical area analysis multiple times, assuming different defect sizes On the basis of critical areas obtained, we calculate weighted bridge fault coverages, considering frequency of occurrence of each fault We also discuss on ATPG sorting algorithms in order to improve weighted bridge fault coverage. |
| キーワード(和) | 重み付きブリッジ故障カバレージ / 重み付きオープン故障カバレージ / レイアウト考慮 / クリティカルエリア |
| キーワード(英) | weighted bridge fault coverage / weighted open fault coverage / layout-aware / critical area |
| 資料番号 | DC2012-82 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2013/2/6(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察(欠陥検出能力評価, VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Note on Fault Coverage Estimation Using Critical Area Analysis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 重み付きブリッジ故障カバレージ / weighted bridge fault coverage |
| キーワード(2)（和/英） | 重み付きオープン故障カバレージ / weighted open fault coverage |
| キーワード(3)（和/英） | レイアウト考慮 / layout-aware |
| キーワード(4)（和/英） | クリティカルエリア / critical area |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 清水 貴弘 / Yoshihiro shimizu |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中山 裕太 / Yuta Nakayama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 首都大学東京システムデザイン学部 Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki Arai |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科:首都大学東京システムデザイン学部 Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University:Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科:首都大学東京システムデザイン学部 Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University:Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2013-02-13 |
| 資料番号 | DC2012-82 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 429 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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