講演名 | 2013-01-24 雑音温度計のための集積型量子雑音電圧源の提案(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般) 前澤 正明, 山田 隆宏, 浦野 千春, |
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抄録(和) | ションソン雑音温度計(JNT)の校正に用いる量子雑音電圧源(QVNS)の新方式を提案する.従来のQVNSでは,高周波機器間のクロストークが,出力波形精度を劣化させ,JNT測定精度を制限する要因になっている.また,擬似乱数コード生成・検証に要する膨大な計算量や高額高周波機器によるシステムコスト増加などの問題がある.QVNSを超伝導集積回路技術により1チッブで実現する集積型QVNS(IQVNS)を提案し,設計概念,動作原理を述べる.単一磁束量子回路(RSFQ)に基づいて設計したIQVNSの出力電圧のパワースペクトル密度を計算した結果,水の三重点のJNT側定に応用可能な擬似白色雑音を生成できることがわかった.IQVNSを用いたJNTシステムは,ボルツマン定数再定義後の温度定義定点再評価などへの応用が期待される. |
抄録(英) | A new implementation of quantum voltage noise source (QVNS), integrated QVNS (IQVNS), for Johnson noise thermometry (JNT) is proposed The concept is integration of all the QVNS subsystems on a superconducting integrated circuit chip, eliminating degradation of output voltage accuracy caused by crosstalk On-chip, real-time pseudo-noise generation with IQVNS omits expensive microwave electronics and costly code calculations We have designed an IQVNS chip consisting of rapid single flux quantum circuitry Simulation shows that pseudo-white noise voltages generated by IQVNS are suitable for JNT measurements A promising application of the JNT with IQVNS is re-evaluation of the temperature fixed points after the redefinition of Boltzmann's constant |
キーワード(和) | 雑音温度計 / 温度計側 / 温度標準 / 雑音標準 / ジョセフソン接合 / 超伝導集積回路 |
キーワード(英) | Noise Thermometry / Thermal Metrology / Temperature Standard / Noise Standard / Josephson Junction / Superconducting Integrated Circuit |
資料番号 | SCE2012-27 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SCE |
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開催期間 | 2013/1/17(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 雑音温度計のための集積型量子雑音電圧源の提案(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Integrated Quantum Voltage Noise Source for Johnson Noise Thermometry |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 雑音温度計 / Noise Thermometry |
キーワード(2)(和/英) | 温度計側 / Thermal Metrology |
キーワード(3)(和/英) | 温度標準 / Temperature Standard |
キーワード(4)(和/英) | 雑音標準 / Noise Standard |
キーワード(5)(和/英) | ジョセフソン接合 / Josephson Junction |
キーワード(6)(和/英) | 超伝導集積回路 / Superconducting Integrated Circuit |
第 1 著者 氏名(和/英) | 前澤 正明 / Masaaki MAEZAWA |
第 1 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所 AIST |
第 2 著者 氏名(和/英) | 山田 隆宏 / Takahiro YAMADA |
第 2 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所 AIST |
第 3 著者 氏名(和/英) | 浦野 千春 / Chiharu URANO |
第 3 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所 AIST |
発表年月日 | 2013-01-24 |
資料番号 | SCE2012-27 |
巻番号(vol) | vol.112 |
号番号(no) | 408 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |