| 講演名 | 2013-01-16 オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価(応用設計, FPGA応用及び一般) 松永 健作, 天野 英晴, 工藤 優, 坂本 龍一, 太田 雄也, 並木 美太郎, 小西 奈緒, 宇佐美 公良, |
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| 抄録(和) | 消費電力の削減技術のひとつであるランタイム・パワーゲーティングはリーク電力を低減させることができるが、スリープさせたときと非スリープ時の電力が等しくなる損益分岐時間(BET)を求めることで効果的に削減できる。BETはリーク電流量に依存するためリーク電流をチップ上で測定することが求められる。本研究ではリーク電流を測定できるリークモニタを実装した65nmプロセスの試作チップを用いて測定を行い、各演算器のBETとリークモニタの出力結果との関係を示した。さらにこの関係を用いて、チップの動作中に様々な温度でBETが求められることを示す。 |
| 抄録(英) | Run-time Power Gating (RTPG) reduces leakage energy by turning off a power switch(PS) for idle periods of a circuit during the operation. To get energy savings in RTPG, power gating needs to be enabled only when the idle time exceeds the break-even time (BET) at which leakage energy reduction by turning off PS becomes equal to the energy overhead. Since BET changes with leakage current.on-line detection of BET is required for RTPG controls. We implemented an on-chip leakage monitor m 65nm CMOS technology, and showed the relation between BET of each computing unit, and leakage current. |
| キーワード(和) | オンチップ・リークモニタ / ランタイム・パワーゲーティング / 損益分岐点(BET) |
| キーワード(英) | On-chip Leakagemonitor / Run time Power Gating / Break Even Time (BET) |
| 資料番号 | VLD2012-118,CPSY2012-67,RECONF2012-72 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2013/1/9(から1日開催) |
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| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価(応用設計, FPGA応用及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Break Even Time Evaluation of Run-Time Power Gating Control by On-chip Leakage Monitor |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | オンチップ・リークモニタ / On-chip Leakagemonitor |
| キーワード(2)（和/英） | ランタイム・パワーゲーティング / Run time Power Gating |
| キーワード(3)（和/英） | 損益分岐点(BET) / Break Even Time (BET) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松永 健作 / Kensaku MATSUNAGA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学大学院理工学研究科 Shibaura Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 天野 英晴 / Hideharu AMANO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学理工学部 Faculty of science and Technology, Keio University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 工藤 優 / Masaru KUDO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学大学院理工学研究科 Shibaura Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 坂本 龍一 / Ryuichi SAKAMOTO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京農工大学工学部 Tokyo Univ of Agriculture and Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 太田 雄也 / Yuya OHTA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学大学院理工学研究科 Shibaura Institute of Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 並木 美太郎 / Mitaro NAMIKI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 東京農工大学工学部 Tokyo Univ of Agriculture and Technology |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 小西 奈緒 / Nao KONISHI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学大学院理工学研究科 Shibaura Institute of Technology |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi USAMI |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学大学院理工学研究科 Shibaura Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2013-01-16 |
| 資料番号 | VLD2012-118,CPSY2012-67,RECONF2012-72 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 375 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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