講演名 2013-01-25
並列線形光サンプリング法を用いた低雑音レーザの位相雑音解析
岡本 達也, 井上 雅晶, 伊藤 文彦,
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抄録(和) デジタルコヒーレントレシーバを用いて、2台のレーザのビート信号を側定し、それを解析することで、レーザの位相雑音を測定する技術が提案されているが、その側定帯域はバランスフォトダイオードやA/Dポートなとのエレクトロニクスによって制限される。よって、2台のレーザの中心周波数差をエレクトロニクスの帯域以下に調整する必要がある。そこで、上記中心周波数調整を緩和する手法として、線形光サンプリング法の広帯域性を活用した並列線形光サンプリング法を提案している。本稿では、レーザの位相雑音解析結果に本測定法の雑音が与える影響を調べるために、本測定法の雑音を解析した。そして、本側定法の雑音はショット雑音由来であることを明らかにした。また本側定法を用いて、低雑音のレーザ位相雑音を測定したので、これを報告する。
抄録(英) A laser phase noise characterization technique that measures a beat signal between two lasers using a digital coherent receiver have been proposed However, the bandwidth is limited by a balanced photodiode and A/D board So it is needed to adjust the center frequency difference between two lasers below such electronics bandwidth In order to relax the adjustment of the center frequency difference we have proposed the parallel linear optical sampling In this paper, we characterized a measurement noise to investigate the noise effect on the measurement result And we found that the cause of the measurement noise is the shot noise Also, we characterized the phase noise of low noise laser
キーワード(和) 並列線形光サンプリング法 / レーザの位相雑音
キーワード(英) Parallel Linear Optical Sampling / Phase Noise of Laser
資料番号 OFT2012-65
発行日

研究会情報
研究会 OFT
開催期間 2013/1/17(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optical Fiber Technology (OFT)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 並列線形光サンプリング法を用いた低雑音レーザの位相雑音解析
サブタイトル(和)
タイトル(英) Characterization of phase noise of low noise laser using parallel linear optical sampling
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 並列線形光サンプリング法 / Parallel Linear Optical Sampling
キーワード(2)(和/英) レーザの位相雑音 / Phase Noise of Laser
第 1 著者 氏名(和/英) 岡本 達也 / Tatsuya OKAMOTO
第 1 著者 所属(和/英) NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network System Laboratories, NTT Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 井上 雅晶 / Masaaki INOUE
第 2 著者 所属(和/英) NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network System Laboratories, NTT Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 伊藤 文彦 / Fumihiko ITO
第 3 著者 所属(和/英) NTTアクセスサービスシステム研究所
NTT Access Network System Laboratories, NTT Corporation
発表年月日 2013-01-25
資料番号 OFT2012-65
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 403
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日