| 講演名 | 2013/3/6 テスト視点からのレビューアの欠陥発見の容易性向上の試み(組込みソフトウェア開発,組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013) 羽田 裕, 石山 康介, 青木 教之, |
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| 抄録(和) | 上流工程での設計レビューと下流工程におけるテストは,ソフトウェア開発にかかわる代表的な検知活動である.筆者らは,設計レビューの品質向上のため,暗黙知だったものを,テスト観点ツリーという形式知にして設計レビューに適用した.これによって従来であれば流出したであろう欠陥を設計レビューで検出することができた.また,幾つかの開発プロジェクトで繰り返し適用することで,開発チームメンバの教育効果が認められた. |
| 抄録(英) | Design Review in the upper process and Test in the lower process are typical detective activity about software development. To improve the quality of Design Review, we changed tacit knowledge into explicit knowledge as Test point of view tree. In this way, we detected undetectable defects before in Design Review. In addition, we used it for some projects repeatedly and confirmed the education effect on development team. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | Vol.2013-SLDM-160 No.12,Vol.2013-EMB-28 No.12 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
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| 開催期間 | 2013/3/6(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | テスト視点からのレビューアの欠陥発見の容易性向上の試み(組込みソフトウェア開発,組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Trial of the Easiness improvement for Reviewer Detecting Defect by Viewpoint of Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 羽田 裕 / YUTAKA HADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電気通信システム(株) NEC Communication Systems, Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石山 康介 / YASUYUKI ISHIYAMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電気通信システム(株) NEC Communication Systems, Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 青木 教之 / NORIYUKI AOKI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電気通信システム(株) NEC Communication Systems, Ltd. |
| 発表年月日 | 2013/3/6 |
| 資料番号 | Vol.2013-SLDM-160 No.12,Vol.2013-EMB-28 No.12 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 481 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |