講演名 2013/3/6
大規模集積回路の信頼性ホットスポット見える化に関する一試行(低電力化・高信頼化,組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013)
木下 克也, 鷲見 知彦, 石原 完, 林 磊, 福井 正博,
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抄録(和) 集積回路の微細化技術の進展と伴に複雑化する信頼性ホットスポットの問題に対して,電源ノイズおよび経年劣化を考慮したタイミングエラーの起きる危険度を「見える化」した.Windows PCで「見える化」システムの構築を行い,多層化による危険個所の浮き彫りを行うことができた.本表示システムは,汎用性が高く,今後の「見える化」システムの基盤として使用していくことができることを確認した.
抄録(英) In recent large-scale integrated circuit, hot spot for reliability becomes a complicated function. This paper has visualized the risks by noise of power gating, rising time, power consumption, timing, etc. The visualization system is built by Windows PC and the dangerous place is high-lighted by the multi-layered visualization system. This display system has high flexibility. We have checked that it can be used as a base of future "visualization" system.
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 Vol.2013-SLDM-160 No.18,Vol.2013-EMB-28 No.18
発行日

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2013/3/6(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Dependable Computing (DC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 大規模集積回路の信頼性ホットスポット見える化に関する一試行(低電力化・高信頼化,組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Trial for Reliability Hot spot Visualization for Large-scale Integrated Circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 木下 克也 / KATSUYA KINOSHITA
第 1 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部
Ritsumeikan University
第 2 著者 氏名(和/英) 鷲見 知彦 / TOMOHIKO SUMI
第 2 著者 所属(和/英) 立命館大学大学院理工学研究科
Graduate School of Ritsumeikan University
第 3 著者 氏名(和/英) 石原 完 / TAMOTSU ISHIHARA
第 3 著者 所属(和/英) 立命館大学大学院理工学研究科
Graduate School of Ritsumeikan University
第 4 著者 氏名(和/英) 林 磊 / LIE LIN
第 4 著者 所属(和/英) 立命館大学大学院理工学研究科
Graduate School of Ritsumeikan University
第 5 著者 氏名(和/英) 福井 正博 / MASAHIRO FUKUI
第 5 著者 所属(和/英) 立命館大学大学院理工学研究科
Graduate School of Ritsumeikan University
発表年月日 2013/3/6
資料番号 Vol.2013-SLDM-160 No.18,Vol.2013-EMB-28 No.18
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 482
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日