| 講演名 | 2013/3/6 エラー検出回復方式を用いた可変レイテンシ回路のための高速な性能見積もり手法(低電力化・高信頼化,組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013) 安藤 健太, 高橋 篤司, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | エラー検出回復方式を用いた可変レイテンシ回路による,回路の高性能化が期待されている.高性能な可変レイテンシ回路を効率よく設計するためには,回路の性能を高速に見積もる必要があり,回路の動的遅延分布の解析が必須となる.本研究では,信号の時間的変化を最初の変化時刻と最後の変化時刻を使って遷移事象として簡易表現すること,生起確率の低い遷移事象を他の遷移事象と併合することで,より少ない計算量で回路の動的遅延分布と速度性能を見積もる手法を提案する.提案手法によるオーバーフロー判定回路の実効クロック周期の見積もりがFPGAで実測した実効クロック周期に近いことを確認した. |
| 抄録(英) | Variable Latency Circuits with Error Detection/Correction (VLEDC) have potential to improve the circuit performance. For designing high performance circuits in VLEDC, it is needed to estimate the circuit performance rapidly. So the analysis of dynamic delay distribution of VLEDC is essential. In this paper, we proposed a method to estimate the dynamic delay distribution and the circuit performance in VLEDC rapidly. We confirm that the estimation of circuit performance by our proposed method is close to the circuit performance observed in FPGA implementation. |
| キーワード(和) | 動的遅延分布 / エラー検出回復方式 / 可変レイテンシ回路 / 遷移事象 |
| キーワード(英) | Dynamic delay distribution / Error detection/correction / Variable latency circuits / Signal transition event |
| 資料番号 | Vol.2013-SLDM-160 No.16,Vol.2013-EMB-28 No.16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2013/3/6(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | エラー検出回復方式を用いた可変レイテンシ回路のための高速な性能見積もり手法(低電力化・高信頼化,組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fast Performance Estimation Method for Variable Latency Circuits with Error Detection/Correction Mechanism |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 動的遅延分布 / Dynamic delay distribution |
| キーワード(2)（和/英） | エラー検出回復方式 / Error detection/correction |
| キーワード(3)（和/英） | 可変レイテンシ回路 / Variable latency circuits |
| キーワード(4)（和/英） | 遷移事象 / Signal transition event |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 安藤 健太 |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学 大学院工学研究科 電気電子情報工学科専攻 Division of Electrical, Electronic and Information Engineering, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 高橋 篤司 |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学大学院理工学研究科集積システム専攻 Department of Communications and Integrated Systems, Tokyo Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2013/3/6 |
| 資料番号 | Vol.2013-SLDM-160 No.16,Vol.2013-EMB-28 No.16 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 482 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |