| 講演名 | 2013-03-05 表面処理および腐食過程解析における表面測定技術(バイオ,エレクトロニクス,材料,界面,その場観察,その他一般) 井上 塁, 阿部 俊介, 伊藤 航平, 砂原 祥, 鈴木 良治, 廣畑 洋平, 野田 和彦, |
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| 抄録(和) | 電析などの表面処理の成膜過程や表面反応により生じる腐食過程を解析するためには、多くの電気化学測定を適切かつ正確に適用する必要がある。本研究では、金属の電気めっき過程、合金系の溶解挙動、大気環境下腐食などを例に、一般的な電気化学測定、特殊な電気化学測定、水晶振動子微量天秤法、表面の電位分布測定などの測定・解析結果とその適用性・有効性を議論する。 |
| 抄録(英) | Suitable electrochemical measurement method is crucial to analyze film form ation process in surface treatment such as electrodeposition and corrosion behavior in surface reaction.In this study, electrochemical process such as electrodeposition, alloy dissolution behavior, atmospheric corrosion by using Quarts Crystal Microbalance (QCM), surface potential distribution measurement, typical and atypical electrochemical measurement will be explained. Furthermore, the results of metal coating by electrodeposition, alloy dissolution behavior and atmospheric corrosion behavior analysis results will be used as base as this discussion. |
| キーワード(和) | 電気化学測定 / 水晶振動子微量天秤法 / ケルビン法 |
| キーワード(英) | Electrochemical measurements / Quartz crystal microbalance / Kelvin method |
| 資料番号 | OME2012-104 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2013/2/26(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 表面処理および腐食過程解析における表面測定技術(バイオ,エレクトロニクス,材料,界面,その場観察,その他一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Surface measurements for surface treatment and corrosion process |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気化学測定 / Electrochemical measurements |
| キーワード(2)（和/英） | 水晶振動子微量天秤法 / Quartz crystal microbalance |
| キーワード(3)（和/英） | ケルビン法 / Kelvin method |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 井上 塁 / Rui INOUE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 阿部 俊介 / Shunsuke ABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 伊藤 航平 / Kohei ITO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 砂原 祥 / Akira SUNAHARA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 鈴木 良治 / Ryouji SUZUKI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 廣畑 洋平 / Youhei HIROHATA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 野田 和彦 / Kazuhiko NODA |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学工学部 Faculty of Engineering, Shibaura Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2013-03-05 |
| 資料番号 | OME2012-104 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 456 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
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