| 講演名 | 2013-03-14 微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(3) 和田 真一, 越田 圭治, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.開発した微摺動機構IIを用いて,電気接点の劣化現象を引き起こし,接触電圧の時系列変動データを取得した.位相面解析によりこの時系列変動データには準安定な周期閉軌道および分岐現象が存在することを見出した.また,大小2つの人工矩形波により時系列変動データは近似可能であることを示唆した.さらに,人工波の位相面解析にも同様な安定周期閉軌道と分岐現象がみられたが,差異も存在した.これらの現象は系の入力の非線形性に依存していると考えられたが,振幅や周波数のゆらぎやデータの飛び等に由来すると考えられるこの差異に関しては,系に内在する非線形性を考慮する必要が示唆された. |
| 抄録(英) | Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. By using the mechanism, "Micro-Sliding Mechanism II", which was developed on trial, they obtained time-sequential fluctuation data of contact voltage. It was shown that there are quasi-stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon in the data by using phase plane analysis. It was indicated that the data are able to be simulated by large and small artificial rectangular wave. It was also shown that there are stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon similar to the above in the artificial data by using phase plane analysis and that there are different phenomena from the above. It was suggested that there is necessary to consider the non-linearity in the system for analyzing the difiference caused the fluctuation of amplitudes or frequencies and data jumping although the phenomena depend upon the non-linearity of the inputs into the system. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 非線形性 / 位相面解析 / 軌道 / 分岐 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / non-linearity / phase plane analysis / orbit / bifurcation |
| 資料番号 | NLP2012-152 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | NLP |
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| 開催期間 | 2013/3/7(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Nonlinear Problems (NLP) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(3) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : Modeling about Fluctuation of Contact Resistance (3) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 非線形性 / non-linearity |
| キーワード(6)（和/英） | 位相面解析 / phase plane analysis |
| キーワード(7)（和/英） | 軌道 / orbit |
| キーワード(8)（和/英） | 分岐 / bifurcation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学:日本工業大学 Keio University:Nippon Institute of Thechnology |
| 発表年月日 | 2013-03-14 |
| 資料番号 | NLP2012-152 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 487 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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