| 講演名 | 2013-03-05 高信頼なネットワークオンチップ実現のためのマルチタスクのスケジューリングとアロケーション(上流設計,システムオンシリコンを支える設計技術) 斎藤 寛, 米田 友洋, 中村 祐一, |
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| 抄録(和) | 本稿では,高信頼なNoCを実現するためのマルチタスクスケジューリング・アロケーション手法を提案する.提案手法は,与えられたNoCモデルとノートの故障数の上限値より,上限値以下のノートの故障パターンを全列挙する.次に,ノートのメモリサイズ,I/Oポート数,アプリケーションの時間制約,スケジューリングの多重度,アロヶ-ションの多重度を制約に,故障パターン毎にマルチタスクスケジューリング・アロケーションを行う.実験では,現実的で規模の大きなアプリケーションに対して,スケジューリングとアロケーションの多重度を変えることによって,提案手法の実行時間,およびアプリケーションの概算性能を評価した. |
| 抄録(英) | This paper proposes a multi-task scheduling and allocation method to realize a reliable NoC. For the given NoC model and upper bound of the number of failed nodes, the proposed method enumerates all failure patterns of nodes. Then, for each failure pattern, multi-task scheduling and allocation based on given multiplicities of scheduling and allocation are performed for the given memory size and number of I/O ports for each node with the time constraint of a given application. In the experiment, the proposed method is applied to a large realistic application. Then, the run-time of the proposed method and the estimated performance of the application are evaluated for varying multiplicities of scheduling and allocation. |
| キーワード(和) | タスクスヶジューリング / タスクアロケーション / 故障 |
| キーワード(英) | NoC / task scheduling / task allocation / failure |
| 資料番号 | VLD2012-146 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2013/2/25(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高信頼なネットワークオンチップ実現のためのマルチタスクのスケジューリングとアロケーション(上流設計,システムオンシリコンを支える設計技術) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Multi-Task Scheduling and Allocation for Highly Reliable Network-on-Chip |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | タスクスヶジューリング / NoC |
| キーワード(2)（和/英） | タスクアロケーション / task scheduling |
| キーワード(3)（和/英） | 故障 / task allocation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 斎藤 寛 / Hiroshi SAITO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 会津大学 The University of Aizu |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 米田 友洋 / Tomohiro YONEDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 国立情報学研究所 National Institute of Informatics |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中村 祐一 / Yuichi NAKAMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電気(株) NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2013-03-05 |
| 資料番号 | VLD2012-146 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 451 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |