| 講演名 | 2013-03-07 周波数領域における相関係数と凸関数をX線検査装置に使用した検査画像作成に関する研究(ソフトコンピューティング,一般) 加藤 洋一, 谷嵜 徹也, 安川 博, |
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| 抄録(和) | X線検査装置は現在,基板実装部品のハンダ接合面検査で多く使用されている.特に2次元透過型X線検査装置は,LSIのBGA化により外観検査不可のハンダ接合面を非破壊で検査を可能にした.しかし,SNRを上げるために加算枚数を増やすことや,実装基板上に多数LSIが並ぶことにより,検査時間は増加の一途をたどった.そこで,実装基板について目標画像を予め作成しておき,検査対象画像と目標画像の空間周波数における相関をとることで,加算枚数を減らす画像処理手法を考察した. |
| 抄録(英) | X-ray inspection is frequently used to inspect the solder bonds of surface-mounted components. This is especially true for LSIs since visual examination is made impossible because the package covers the BGA. The inherent instability of x-ray inspection and the low SNR of the resulting images are commonly offset by averaging a number of images; unfortunately, this increases the time taken. Our solution is to use fewer inspection images but achieve acceptable image quality by correlating them to a reference image by an image processing technique in the frequency domain. |
| キーワード(和) | BGA / 学習データ / 相関係数 / 凸関数 |
| キーワード(英) | BGA / training data / correlation coefficient / convex function |
| 資料番号 | SIS2012-45 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SIS |
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| 開催期間 | 2013/2/28(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Smart Info-Media Systems (SIS) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | 周波数領域における相関係数と凸関数をX線検査装置に使用した検査画像作成に関する研究(ソフトコンピューティング,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A study on test image production using frequency domain correlation with convex function for radiographic inspection equipments |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BGA / BGA |
| キーワード(2)（和/英） | 学習データ / training data |
| キーワード(3)（和/英） | 相関係数 / correlation coefficient |
| キーワード(4)（和/英） | 凸関数 / convex function |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 加藤 洋一 / Yoichi KATO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛知県立大学:名古屋電機工業株式会社 Graduate School of Information Science and Technology, Aichi Prefectural University:Engineering &Development, Nagoya Electric Works Co., LTD. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 谷嵜 徹也 / Tetsuya TANIZAKI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 名古屋電機工業株式会社 Engineering &Development, Nagoya Electric Works Co., LTD. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 安川 博 / Hiroshi YASUKAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛知県立大学 Graduate School of Information Science and Technology, Aichi Prefectural University |
| 発表年月日 | 2013-03-07 |
| 資料番号 | SIS2012-45 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 465 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |