| 講演名 | 2012-09-21 複数エラーの鍵値推定に基づくフォールト解析 小野 みどり, 吉川 雅弥, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年,スマートカードなどの携帯型デバイスに個人情報等を保管して,認証などに利用するシステムが広く普及している.これらは,暗号回路を搭載して情報を守っているが,攻撃者が自由にデバイスを操作できるため,フォールト解析などの攻撃の脅威が指摘されている.フォールト解析は,故意に故障(フォールト)を引き起こし,その出力を解析することで回路の内部状況を推定する攻撃手法である.不正クロックによるフォールトは,発生が容易であるが,回路全体が反応するため解析は困難であった.本研究は,このフォールトが少数ビットに偏りやすいという特性を利用したもので,フォールトの発生箇所や個数が不明でも解析を可能とする解析手法を提案し,不正クロックによるフォールトを解析可能にしたものである.さらに,FPGA上に攻撃実験を行う環境を構築し,攻撃シミュレーションを行うことで本手法による解析が有効であることを確認した. |
| 抄録(英) | Recently, handheld devices like smart-cards are used widely. These devices usually protect confidential information using security circuit with standard encryption. However, it was reported that fault analysis attack could retrieve the information from them. In its attack, an attacker produces some faults in the security circuit, and analyzes the faults output to retrieve information. Clock glitch is one of them and easily induces faults. But its output is difficult to analyze, because the faults occur in many positions of the circuit. We propose a new fault analysis method which utilizes fault's characteristic. In addition, we construct the fault attack environment in FPGA, and simulate fault attack. Simulation results proved the validity of the proposed method. |
| キーワード(和) | AES / フォールト解析攻撃 / DFA |
| キーワード(英) | AES / Fault Analysis Attack / DFA |
| 資料番号 | ISEC2012-55 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC |
|---|---|
| 開催期間 | 2012/9/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Information Security (ISEC) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 複数エラーの鍵値推定に基づくフォールト解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault Analysis Based on Key Presumption for Multiple Errors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(2)（和/英） | フォールト解析攻撃 / Fault Analysis Attack |
| キーワード(3)（和/英） | DFA / DFA |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小野 みどり / Midori Ono |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 名城大学理工学部 Department of Information Engineering Meijo University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉川 雅弥 / Masaya Yoshikawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 名城大学理工学部 Department of Information Engineering Meijo University |
| 発表年月日 | 2012-09-21 |
| 資料番号 | ISEC2012-55 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 211 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |