講演名 2012-11-30
ウルツ鉱構造InGaNのバンド構造とオージェ再結合の解析(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
波多腰 玄一, 布上 真也,
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抄録(和) ウルツ鉱構造InGaNでは伝導帯側にバンドギャップエネルギーと同じオーダーのエネルギー差を持つバンドがあり,これを介したウルツ鉱構造特有のオージェ過程がデバイス特性に大きく影響する可能性がある.強束縛法によりInGaNのバンド構造を解析し,それを基にオージェ再結合係数を解析した.波長450nm付近でのオージェ再結合係数は10^<-41>m^6/sと極めて大きく,オージェ再結合がLEDの効率に影響を及ぼす十分な大きさである.
抄録(英) A characteristic feature of the wurtzite semiconductor is the existence of a higher conduction band having the energy difference comparable to the bandgap energy. In such band structure, the Auger coefficient can be significantly large and affect the efficiency droop of the LED. Based on the analysis of band structure, the Auger coefficients in wurtzite InGaN have been calculated. The results indicate that the Auger coefficient for the wurtzite InGaN near the 450nm wavelength region is sufficiently large to cause the efficiency droop.
キーワード(和) ウルツ鉱構造 / バンド構造 / オージェ再結合 / InGaN / LED / 効率ドループ
キーワード(英) Wurtzite / Band structure / Auger recombination / InGaN / LED / Efficiency droop
資料番号 ED2012-86,CPM2012-143,LQE2012-114
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 2012/11/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ウルツ鉱構造InGaNのバンド構造とオージェ再結合の解析(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of band structure and Auger recombination process in wurtzite InGaN
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ウルツ鉱構造 / Wurtzite
キーワード(2)(和/英) バンド構造 / Band structure
キーワード(3)(和/英) オージェ再結合 / Auger recombination
キーワード(4)(和/英) InGaN / InGaN
キーワード(5)(和/英) LED / LED
キーワード(6)(和/英) 効率ドループ / Efficiency droop
第 1 著者 氏名(和/英) 波多腰 玄一 / Gen-ichi Hatakoshi
第 1 著者 所属(和/英) (株)東芝研究開発センター
Toshiba R&D Center
第 2 著者 氏名(和/英) 布上 真也 / Shinya Nunoue
第 2 著者 所属(和/英) (株)東芝研究開発センター
Toshiba R&D Center
発表年月日 2012-11-30
資料番号 ED2012-86,CPM2012-143,LQE2012-114
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 329
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日