講演名 2012-11-30
ドループ改善に向けた窒化物半導体np構造LEDの作製(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
森田 隆敏, 加賀 充, 桑野 侑香, 松井 健城, 竹内 哲也, 上山 智, 岩谷 素顕, 赤崎 勇,
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抄録(和) 窒化物半導体LEDでは、高電流注入時の発光効率低下、いわゆるドループ現象が課題となっている。我々は、このドループ現象を改善するために、従来のpn構造を逆に積層したnp構造LEDの実現を目指している。本報告では、このnp構造ではキャリアオーバーフローが抑制される様子を理論計算により示した。続いて、トンネル接合を利用したnp構造を試作した。その結果、全面発光するLEDが実現できた。一方で、従来のpn構造に比べ、駆動電圧増加および光出力低下が確認された。これは、トンネル接合での不十分なMg濃度と、活性層での不必要なMg混入が原因であり、さらなる改善によりドループ現象の抑制が期待される。
抄録(英) A decrease of external quantum efficiency with an increase of injection current in nitride semiconductor LEDs, a so-called efficiency droop, has been an issue. We have been developing an np-junction LED consisting of a reversed layer structure of a conventional pn-junction LED in order to reduce the droop. In this report, our theoretical calculation indicated that carrier overflow was suppressed in the np-junction LEDs. In addition, the np-junction LED was designed and fabricated with a tunnel junction. We then achieved uniform emission from the np-junction LED. At the same time, an increase of driving voltage and a decrease of light output power were observed compared to those of the conventional pn-junction LED. An insufficient Mg concentration at the tunnel junction and an unintentional Mg incorporation at the active region are the reasons for poor device performances. A suppression of the droop will be expected by further improvement of the np-junction LEDs.
キーワード(和) np接合LED / ドループ現象 / トンネル接合 / 内蔵電界 / Mg濃度 / GaN
キーワード(英) np-junction LED / efficiency droop / tunnel junction / built-in electric field / Mg concentration / GaN
資料番号 ED2012-79,CPM2012-136,LQE2012-107
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 2012/11/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ドループ改善に向けた窒化物半導体np構造LEDの作製(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Nitride semiconductor np-LEDs for improvement of efficiency droop
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) np接合LED / np-junction LED
キーワード(2)(和/英) ドループ現象 / efficiency droop
キーワード(3)(和/英) トンネル接合 / tunnel junction
キーワード(4)(和/英) 内蔵電界 / built-in electric field
キーワード(5)(和/英) Mg濃度 / Mg concentration
キーワード(6)(和/英) GaN / GaN
第 1 著者 氏名(和/英) 森田 隆敏 / Takatoshi MORITA
第 1 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 2 著者 氏名(和/英) 加賀 充 / Mitsuru KAGA
第 2 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 3 著者 氏名(和/英) 桑野 侑香 / Yuka KUWANO
第 3 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 4 著者 氏名(和/英) 松井 健城 / Kenjo MATSUI
第 4 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 5 著者 氏名(和/英) 竹内 哲也 / Tetsuya TAKEUCHI
第 5 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 6 著者 氏名(和/英) 上山 智 / Satoshi KAMIYAMA
第 6 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 7 著者 氏名(和/英) 岩谷 素顕 / Motoaki IWAYA
第 7 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部
Fac. Sci. & Eng., Meijo University
第 8 著者 氏名(和/英) 赤崎 勇 / Isamu AKASAKI
第 8 著者 所属(和/英) 名城大学理工学部:名古屋大学赤崎記念研究センター
Fac. Sci. & Eng., Meijo University:Grad. Sch. of Eng., Nagoya University
発表年月日 2012-11-30
資料番号 ED2012-79,CPM2012-136,LQE2012-107
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 329
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日