| 講演名 | 2012-11-28 動的部分再構成による故障回避に関する一考察(高信頼性と画像認識,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) 郡浦 宏明, 今川 隆司, 密山 幸男, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, |
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| 抄録(和) | 再構成可能デバイスの劣化故障に起因する恒久的エラーを回避する手法として,動的再構成機能を利用した部分配置配線による故障回避手法が提案されている.この故障回避手法により達成される寿命延長効果は,初期のアプリケーションマッピングや未使用構成要素の配置・数,部分配置配線アルゴリズムに依存する.本稿では,再構成可能デバイスの配置配線に広く用いられているVPRを基に故障回避シミュレーションを実行し,初期マッピングと寿命延長効果の関係を調査した.評価結果より,アプリケーションの規模が大きくなるにつれて任意の目標寿命を得るために必要な故障回避可能回数が増加することを示した.また,部分再構成の成功率を高めるため配線使用率を35%以下に抑える設計ガイドラインを示した. |
| 抄録(英) | Fault-avoidance methods using dynamic partial reconfiguration on reconfigurable devices are proposed for avoiding the emergence of permanent errors caused by aging. Life-time enhancement achieved by these methods depends on an initial mapping, the number and spatial distribution of unused basic elements, and an algorithm of partial placement and routing. In this work, we perform fault-avoidance simulation using VPR of the standard placement tool, and evaluate the relationship between mappings and life-time enhancement. Experimental results show as the application scale becomes larger, a large number of avoided faults becomes required. We also reveal that keeping wire utilization below 35% is helpful to raise success ratio of partial reconfiguration. |
| キーワード(和) | 故障回避 / 部分再構成 / MTTF(Mean Time To Failure) |
| キーワード(英) | Fault-avoidance / Partial reconfiguration / MTTF (Mean Time To Failure) |
| 資料番号 | RECONF2012-59 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | RECONF |
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| 開催期間 | 2012/11/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reconfigurable Systems (RECONF) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 動的部分再構成による故障回避に関する一考察(高信頼性と画像認識,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An observational study on fault-avoidance methods using dynamic partial reconfiguration |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障回避 / Fault-avoidance |
| キーワード(2)（和/英） | 部分再構成 / Partial reconfiguration |
| キーワード(3)（和/英） | MTTF(Mean Time To Failure) / MTTF (Mean Time To Failure) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 郡浦 宏明 / Hiroaki KONOURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Engineering, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 今川 隆司 / Takashi IMAGAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都大学大学院情報科学研究科通信情報システム専攻 Dept. Communications and Computer Engineering, Kyoto University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 密山 幸男 / Yukio MITSUYAMA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 高知工科大学システム工学群 School of Systems Engineering, Kochi University of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 橋本 昌宜 / Masanori HASHIMOTO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Engineering, Osaka University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 尾上 孝雄 / Takao ONOYE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻 Dept. Information Systems Engineering, Osaka University |
| 発表年月日 | 2012-11-28 |
| 資料番号 | RECONF2012-59 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 325 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |