| 講演名 | 2012-11-28 遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) 若杉 諒介, 細川 利典, 吉村 正義, |
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| 抄録(和) | 従来,VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている.しかしながら,近年VLSIの製造プロセスの微細化に伴い,それらを対象としたテストでは検出されない欠陥が増加している.本論文では,近年頻繁に発生する欠陥の中で検出条件が複雑な微小遅延故障モデルとオープン故障モデルに対するテスト品質評価尺度として故障活性化率を定義し,与えられた遷移故障テスト集合に対して故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行う手法を提案する.遷移故障モデルを対象としたテストパターンに対して,故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行うことで,テストパターン数を増加させることなく高品質なテスト集合を生成することが可能である.ISCAS'89ベンチマーク回路に対して,初期テスト集合として与えられた遷移故障テスト集合と比較して,提案するドントケア割当て法によって生成されたテスト集合はSDQL値を17～21%,オープン故障検出率を7.1～11.1%改善できることを示す. |
| 抄録(英) | A single stuck-at fault model and a transition fault model have been widely used to generate test patterns for VLSIs. However, defects which are not detected by test sets for the classical fault models recently increase with the growing density and complexity of VLSIs. In this paper, fault sensitization coverage is defined as the simple measure of test quality for small delay faults and open faults. Defects which frequently occur in VLSIs are modeled as a small delay fault and an open fault whose detection conditions are complex. This paper proposes a don't care filling method to improve fault sensitization coverage for given initial transition fault test sets. This method is possible to generate high quality test sets for small delay faults and open faults without any impact on test data volume. Experimental results show that final test sets generated by the proposed don't care filling method improved SDQL by 17～21% and open fault coverage by 7.1～11.1% compared with given initial transition fault sets. |
| キーワード(和) | 遷移故障 / オープン故障 / 故障活性化率 / 微小遅延故障 / SDQL / ドントケア割当て |
| キーワード(英) | transition faults / open faults / fault sensitization coverage / small delay faults / SDQL / don't care filling |
| 資料番号 | VLD2012-103,DC2012-69 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2012/11/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A don't care filling method to improve fault sensitization coverage on transition fault test set |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | オープン故障 / open faults |
| キーワード(3)（和/英） | 故障活性化率 / fault sensitization coverage |
| キーワード(4)（和/英） | 微小遅延故障 / small delay faults |
| キーワード(5)（和/英） | SDQL / SDQL |
| キーワード(6)（和/英） | ドントケア割当て / don't care filling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 若杉 諒介 / Ryosuke WAKASUGI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学大学院生産工学研究科 Graduate School of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori HOSOKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学生産工学部 College of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi YOSHIMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院システム情報科学研究院 Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University |
| 発表年月日 | 2012-11-28 |
| 資料番号 | VLD2012-103,DC2012-69 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 321 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |