| 講演名 | 2012-11-28 マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) 王 森レイ, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 宮瀬 紘平, |
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| 抄録(和) | 論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である.スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案されているが,キャプチャパターンのスキャン出力時の電力制御は必ずしも容易ではなくこれまでの研究も多くない.本研究ではマルチサイクルBISTを活用したスキャン出力時の電力低減手法を提案する.スキャン出力時に一部のFF(Flip-Flop)の値を書き換えることにより,故障検出率の低下を押さえながら,スキャン出力時の電力を低減できることを示す. |
| 抄録(英) | Excessive power dissipation in logic BIST is a serious problem. Although many low power BIST approaches that focus on scan-in power or capture power have been proposed, there are not so many techniques for scan-out power reduction due to the difficulty in controlling the captured test responses. In this paper, we propose a novel scan-out power reduction method for multi-cycle BIST that directly reduces scan-out power by modifying some flip-flops' values in scan chains at the last capture, and without sacrificing the test coverage. |
| キーワード(和) | 低電力 / 論理BIST / マルチサイクルテスト / シフト電力 |
| キーワード(英) | low power / BIST / multi-cycle test / shift power |
| 資料番号 | VLD2012-102,DC2012-68 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2012/11/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Scan-Out Power Reduction Method for Multi-Cycle BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 低電力 / low power |
| キーワード(2)（和/英） | 論理BIST / BIST |
| キーワード(3)（和/英） | マルチサイクルテスト / multi-cycle test |
| キーワード(4)（和/英） | シフト電力 / shift power |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Senling Wang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:Japan Science and Technology Agency, CREST |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:Japan Science and Technology Agency, CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:Japan Science and Technology Agency, CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:Japan Science and Technology Agency, CREST |
| 発表年月日 | 2012-11-28 |
| 資料番号 | VLD2012-102,DC2012-68 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 321 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |