講演名 2012-11-28
仮想グランド線電圧の自動検出による細粒度パワーゲーティング制御(電力解析,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
工藤 優, 宇佐美 公良,
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抄録(和) 本稿では、リーク電流による仮想グランド線のチャージアップ現象を利用した遅延素子を用いた細粒度パワーゲーティングへのスリープ制御方式を提案する。リーク電流量によって遅延時間が変わるため、より効果的にリーク電力を削減することができる。PG非適用時に対する本手法のエネルギー削減率は平均で83%であった。
抄録(英) This paper describes fine-grain control to power gate function units using the charge up phenomenon of the virtual ground voltage by the leak current. This scheme reduces leakage power more effectively, because changing delay time by quantity of leak current. It has reduced the energy by 83% on average.
キーワード(和) 細粒度パワーゲーティング / リークモニタ / 低消費電力
キーワード(英) Fine Grain Power Gating / Leak Monitor / Low Power
資料番号 VLD2012-98,DC2012-64
発行日

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2012/11/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Dependable Computing (DC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 仮想グランド線電圧の自動検出による細粒度パワーゲーティング制御(電力解析,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Control of Fine-Grain Power Gating by Detecting of the Virtual Ground Voltage
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 細粒度パワーゲーティング / Fine Grain Power Gating
キーワード(2)(和/英) リークモニタ / Leak Monitor
キーワード(3)(和/英) 低消費電力 / Low Power
第 1 著者 氏名(和/英) 工藤 優 / Masaru KUDO
第 1 著者 所属(和/英) 芝浦工業大学大学院理工学研究科電気電子情報工学専攻
Department of Information Science and Engineering, Shibaura Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 宇佐美 公良 / Kimiyoshi USAMI
第 2 著者 所属(和/英) 芝浦工業大学工学部情報工学科
Department of Information Engineering, Shibaura Institute of Technology
発表年月日 2012-11-28
資料番号 VLD2012-98,DC2012-64
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 321
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日