講演名 | 2012-11-16 カーボンナノチューブやグラフェンシートの電子バンド構造に及ぼす三次元ひずみ場の影響解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般) 鈴木 研, 大西 正人, 三浦 英生, |
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抄録(和) | カーボンナノチューブ(CNT)は,その発見以来,電子デバイスや各種センサへの応用が期待され様々な研究が行われている.例えば,CNTの電気伝導特性が機械的ひずみにより敏感に変化する性質を用いたセンサの作成が行われている.一方,電気伝導特性ひずみ敏感性は電子デバイス等の性能ばらつきの原因となる可能性がある.そこで本研究では,外力により変形したCNTの構造と電子構造の変化を詳細に解析し,CNTの電子構造を変化する主なメカニズムには,結合長比の変化と曲率の増加による軌道の混成であることを明らかにした. |
抄録(英) | The prediction of the change in the conductivity of carbon nanotubes (CNTs) under strain is crucially important to assure the reliability of the performance of CNT-based electronic devices. In this study, the change of the electronic state of CNTs caused by deformation was investigated. We found that the change of the electronic sate of CNTs was mainly dominated by (a) a change in the bond length ratio in a six-membered ring and (b) increase in the local curvature leading to an orbital hybridization. |
キーワード(和) | カーボンナノチューブ / グラフェン / ひずみ / 電気伝導度 / 密度汎関数法 |
キーワード(英) | carbon nanotube / graphene / strain / conductivity / density functional theory |
資料番号 | SDM2012-110 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SDM |
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開催期間 | 2012/11/8(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Silicon Device and Materials (SDM) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | カーボンナノチューブやグラフェンシートの電子バンド構造に及ぼす三次元ひずみ場の影響解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Effect of a Three-dimensional Strain Field on the Electronic Band Structure of Carbon Nanotubes and Graphene Sheets |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | カーボンナノチューブ / carbon nanotube |
キーワード(2)(和/英) | グラフェン / graphene |
キーワード(3)(和/英) | ひずみ / strain |
キーワード(4)(和/英) | 電気伝導度 / conductivity |
キーワード(5)(和/英) | 密度汎関数法 / density functional theory |
第 1 著者 氏名(和/英) | 鈴木 研 / Ken Suzuki |
第 1 著者 所属(和/英) | 東北大学工学研究科附属エネルギー安全科学国際研究センター Fracture and Reliability Research Institute, Graduate School of Engineering, Tohoku University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 大西 正人 / Masato Ohnishi |
第 2 著者 所属(和/英) | 東北大学工学研究科ナノメカニクス専攻 Department of Nanomechanics, Graduate School of Engineering, Tohoku University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 三浦 英生 / Hideo Miura |
第 3 著者 所属(和/英) | 東北大学工学研究科附属エネルギー安全科学国際研究センター Fracture and Reliability Research Institute, Graduate School of Engineering, Tohoku University |
発表年月日 | 2012-11-16 |
資料番号 | SDM2012-110 |
巻番号(vol) | vol.112 |
号番号(no) | 290 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 3 |
発行日 |