| 講演名 | 2012-11-22 誘電体基板測定用平衡形円板共振器法の測定可能範囲に関する検討 小林 禧夫, |
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| 抄録(和) | 同軸励振平衡形円板共振器法は、マルチ共振モードを用いることにより誘電体基板の垂直方向の複素誘電率の周波数依存性を測定できるため、最近よく利用されている。本報告では、周波数、試料厚さ、比誘電率、誘電正接に関してそれらの測定可能範囲について検討する。その結果、本測定法は、3～110GHzの周波数範囲、0.05～2mmの試料厚範囲、1.1～10の比誘電率範囲、0.0001～0.2の誘電正接範囲に対して測定可能な結論を得た。 |
| 抄録(英) | Balanced-type circular disk resonator method, excited by coaxial lines, is commonly used to measure the frequency dependence of the complex relative permittivity of dielectric substrates. In this paper, the measurement permissible ranges are discussed for frequency range, substrate thickness, relative permittivity, loss tangent, which result in the frequency range of 3～110GHz, substrate thickness of 0.05～2mm, relative permittivity of 1.1～10, and loss tangent of 0.0001～0.02. |
| キーワード(和) | 複素誘電率 / 誘電体基板 / 周波数依存性測定 / マイクロ波 / ミリ波 |
| キーワード(英) | Complex permittivity / Dielectric substrate / Frequency dependent measurement / Microwave / Millimeter-wave |
| 資料番号 | MW2012-121 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2012/11/14(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 誘電体基板測定用平衡形円板共振器法の測定可能範囲に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Discussions on Measurement Ranges in Balanced-Type Circular Disk Resonator Method to Measure Dielectric Substrates |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 複素誘電率 / Complex permittivity |
| キーワード(2)（和/英） | 誘電体基板 / Dielectric substrate |
| キーワード(3)（和/英） | 周波数依存性測定 / Frequency dependent measurement |
| キーワード(4)（和/英） | マイクロ波 / Microwave |
| キーワード(5)（和/英） | ミリ波 / Millimeter-wave |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小林 禧夫 / Yoshio KOBAYASHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | サムテック(有) SUMTEC, Inc. |
| 発表年月日 | 2012-11-22 |
| 資料番号 | MW2012-121 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 312 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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