講演名 2012-11-27
線形設計回路で発生する相互変調ひずみ測定(デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地)
久我 宣裕, 石橋 大二郎,
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抄録(和) 線形設計された回路で発生する相互変調ひずみ現象とその測定法について,概要を述べる.
抄録(英) This report reviews intermodulation phenomena observed in linearly designed circuits and the measurement techniques for them.
キーワード(和) 相互変調ひずみ / 基地局アンテナ / 移動体通信 / 衛星通信 / 非線形現象
キーワード(英) Passive intermodulation / Base-station antennas / Mobile communications / Satellite communications / Nonlinear phenomena
資料番号 CPM2012-113,ICD2012-77
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2012/11/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 線形設計回路で発生する相互変調ひずみ測定(デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Passive Intermodulation Observed in linearly designed circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 相互変調ひずみ / Passive intermodulation
キーワード(2)(和/英) 基地局アンテナ / Base-station antennas
キーワード(3)(和/英) 移動体通信 / Mobile communications
キーワード(4)(和/英) 衛星通信 / Satellite communications
キーワード(5)(和/英) 非線形現象 / Nonlinear phenomena
第 1 著者 氏名(和/英) 久我 宣裕 / Nobuhiro Kuga
第 1 著者 所属(和/英) 横浜国立大学大学院工学研究院
Faculty of Engineering, Yokohama National University
第 2 著者 氏名(和/英) 石橋 大二郎 / Daijiro Ishibashi
第 2 著者 所属(和/英) 横浜国立大学大学院工学研究院
Faculty of Engineering, Yokohama National University
発表年月日 2012-11-27
資料番号 CPM2012-113,ICD2012-77
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 323
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日